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专利名称:一种光器件频响测量方法及测量装置

专利申请号202011122563.X
申请日2020.10.20
公开(公告)号CN112268685A
公开(公告)日2021.01.26
主分类号G01M11/02
分案原申请号
分类号G01M11/02
优先权
申请(专利权)人南京航空航天大学
地址210000 江苏省南京市江宁区将军大道29号
发明(设计)人潘时龙;卿婷;曹美会;李树鹏;方奕杰;王立晗
国际申请
国际公布
进入国家阶段日期
专利代理机构北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467
代理人杨楠
专利类型发明专利
摘要本发明公开了一种光器件频响测量方法,将频率为ω1的第一微波信号和频率为ω2的第二微波信号分别调制于频率为ω0、ω0+Δω的两路光载波上,生成两路奇数阶被抑制的二阶双边带信号;将所述两路二阶双边带信号耦合后分为两路,一路作为参考路直接光电转换为参考路电信号,另一路作为测试路,经过待测光器件后光电转换为测试路电信号;以参考路电信号中的+2阶频率分量Δω+2(ω2‑ω1)和‑2阶频率分量Δω‑2(ω2‑ω1)作为参考,提取测试路电信号中这两个频率分量处的光电流,然后计算出待测光器件在频率处、频率处的幅度响应和时延响应。本发明还公开了一种光器件频响测量装置。相比现有技术,本发明可大幅提高测量精度和测量范围,且降低对硬件的性能要求。
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