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专利名称:一种光器件频响测量方法及测量装置
专利申请号 | 202011122563.X |
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申请日 | 2020.10.20 |
公开(公告)号 | CN112268685A |
公开(公告)日 | 2021.01.26 |
主分类号 | G01M11/02 |
分案原申请号 | |
分类号 | G01M11/02 |
优先权 | |
申请(专利权)人 | 南京航空航天大学 |
地址 | 210000 江苏省南京市江宁区将军大道29号 |
发明(设计)人 | 潘时龙;卿婷;曹美会;李树鹏;方奕杰;王立晗 |
国际申请 | |
国际公布 | |
进入国家阶段日期 | |
专利代理机构 | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 |
代理人 | 杨楠 |
专利类型 | 发明专利 |
摘要 | 本发明公开了一种光器件频响测量方法,将频率为ω1的第一微波信号和频率为ω2的第二微波信号分别调制于频率为ω0、ω0+Δω的两路光载波上,生成两路奇数阶被抑制的二阶双边带信号;将所述两路二阶双边带信号耦合后分为两路,一路作为参考路直接光电转换为参考路电信号,另一路作为测试路,经过待测光器件后光电转换为测试路电信号;以参考路电信号中的+2阶频率分量Δω+2(ω2‑ω1)和‑2阶频率分量Δω‑2(ω2‑ω1)作为参考,提取测试路电信号中这两个频率分量处的光电流,然后计算出待测光器件在频率处、频率处的幅度响应和时延响应。本发明还公开了一种光器件频响测量装置。相比现有技术,本发明可大幅提高测量精度和测量范围,且降低对硬件的性能要求。 |
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