一种空天飞行器电离总剂量效应防护设计方法

发明专利 申请号:202311578689.1 申请日:2023.11.23

专利信息

专利申请号 202311578689.1
申请日 2023.11.23
公开(公告)号 CN122197245A
公开(公告)日 2026.06.12
主分类号 G06F30/20
分类号 G06F30/20 G06F30/15 G06F119/08 G06F119/14 G06F119/02 G06F113/28
优先权
分案原申请号

权利人信息

申请(专利权)人 北京宇航系统工程研究所
地址 100076 北京市丰台区南大红门路1号
发明(设计)人 韩金鹏;张家雄;张华山;周正阳;陈雅曦;杜志博

国际信息

国际申请
国际公布
进入国家阶段日期

代理信息

专利代理机构 中国航天科技专利中心 11009
代理人 张丽筠
专利类型 发明专利

摘要

本发明公开了一种空天飞行器电离总剂量效应防护设计方法,包括:依据总体方案获取输入参数开展飞行器辐射剂量一维分析;依据飞行器轨道辐射剂量分析结果,对飞行器设备内部辐射剂量进行分析;确定设备内部元器件需耐受的电离总剂量;通过厂家提供的数据、飞行试验获得的数据或地面试验活动的数据确定元器件可耐受的电离总剂量;依据总体要求确定元器件需要满足的辐射设计余量要求;依据元器件需耐受的电离总剂量和可耐受的电离总剂量计算元器件的辐射设计余量数值;判断元器件实际的辐射设计余量数值是否满足辐射设计余量要求;如果辐射设计余量不满足要求,则开展屏蔽设计或三维剂量分析。解决空间辐射环境效应对飞行器产生严重危害的问题。

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