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1:
[发明]
根据Nand Flash多余空间来配置纠错能力的BCH解码器
申请号:
200910046088.X
公开号:CN101483442 主分类号:H03M13/15(2006.01)I
申请人:
芯原微电子(上海)有限公司
;
芯原股份有限公司
申请日:2009.02.11 公开日:2009.07.15
发明人:
诸烜程
;
周 华
;
姜启军
摘要:一种根据Nand Flash多余空间来配置纠错能力的BCH解码器包括:用于根据Nand Flash多余空间来配置解码器的纠错比特数的纠错能力指示模块;用于根据配置的纠错比特数、及输入的码字,采用迭代法并行计算出相应奇数序号的校正子的奇数校正子计算模块;用于根据所计算出的奇数序号的校正子串行计算出偶数序号的校正子的偶数校正子计算模块;用于根据所计算出奇数序号和偶数序号的校正子,采用无逆简化的BMA算法迭代求解出错误位置方程的各系数、及错误码字个数的解牛顿恒等式模块;用于根据所求解出的各系数和错误码字的个数,搜索出错误比特位置以对其进行纠正,进而实现译码的chien搜索模块,此译码延迟小,兼容性好,且硬件复用率高。
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2:
[发明]
一种提高模数转换器精度的系统及方法
申请号:
200810144174.X
公开号:CN101478309 主分类号:H03M1/06(2006.01)I
申请人:
芯原股份有限公司
;
芯原微电子(上海)有限公司
申请日:2008.07.24 公开日:2009.07.08
发明人:
白建军
;
苏秀敏
;
刘 军
;
陈 恒
摘要:本发明揭示了一种提高模数转换器精度的系统,用于电荷重新分布型逐次逼近模数转换器,该系统包括控制逻辑模块、比较器、数模转换器及若干数据线,其中,所述系统进一步包括连接于控制逻辑模块与数模转换器之间的温度计编码器,所述温度计编码器用于将控制逻辑模块中输出的二进制编码转为温度计编码。本发明在模数转换器中引入了温度计编码,同传统的二进制码相比匹配精度更高,在不采用数字校正的情况下,传统的采用二进制码SARADC匹配精度达到10比特;而本发明在SAR ADC中引入了温度计编码,使其匹配精度提高到12比特。
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3:
[发明]
CUP焊垫区物理版图的设计方法及其结构
申请号:
200910151189.3
公开号:CN101789032A 主分类号:G06F17/50(2006.01)I
申请人:
芯原微电子(上海)有限公司
;
芯原股份有限公司
申请日:2009.07.23 公开日:2010.07.28
发明人:
朱余龙
;
宦正玉
;
费伟斌
摘要:本发明涉及一种CUP焊垫区物理版图的设计方法及其结构。该方法包括以下步骤:确定所需通孔的数量;确定各通孔之间最小容许的间距;将通孔以大于最小容许的间距分散放置于钝化窗口之外的区域内;窗口以外的区域排列不下所需要数量的通孔时,把其余的通孔放置在窗口的边缘区域,或窗口内远离中心的区域。该CUP焊垫区物理版图的结构,其通孔均匀分散的位于远离钝化窗口中心的区域,可以减少压焊过程中不良微缺陷的产生,保持焊垫区结构的稳定性,从而提高了芯片封装的成品率和可靠性。
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4:
[发明]
一种基于UVC传输协议的数字仪器及其使用方法
申请号:
200810133785.4
公开号:CN101634677 主分类号:G01R31/00(2006.01)I
申请人:
芯原股份有限公司
;
芯原微电子(上海)有限公司
申请日:2008.07.24 公开日:2010.01.27
发明人:
李 韧
摘要:本发明揭示了一种基于UVC传输协议的USB数字仪器,其包括依次电性连接的测试模块、转换接口模块及显示模块。其中,所述转换接口模块至少包括测试数据处理模块、测试数据存储模块、USB UVC控制模块及USB UVC传输模块。本发明使用USB接口可以省略数字仪器的显示部分而直接利用电脑或掌上电脑显示,成本低、体积小、应用方便。
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5:
[发明]
存储器芯片及其操作方法、终端
申请号:
202510682718.1
公开号:CN120564805A 主分类号:G11C29/38
申请人:
芯原微电子(上海)股份有限公司
;
芯原微电子(海南)有限公司
申请日:2025.05.26 公开日:2025.08.29
发明人:
林淮
;
金小卫
;
黄萍
;
邓廷
;
俞淑贞
摘要:本发明提供一种存储器芯片及操作方法、终端,其中,存储器芯片包括数据存储电路和冗余控制电路;数据存储电路包括数据存储阵列,用于至少对数据存储阵列中的目标存储单元进行数据信号的写入和读出,冗余控制电路接收原始数据信号和验证数据信号,并对原始数据信号和验证数据信号进行异同验证,以基于验证结果决定是否对目标存储单元进行冗余替换,其中,原始数据信号为写入目标存储单元的数据信号,验证数据信号为从目标存储单元中读出的数据信号。通过本发明解决了现有技术中采用外部算法来检测故障内存时所存在的交互延迟和能耗问题。
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6:
[发明]
数据存储排序电路及其方法、处理单元、芯片、终端
申请号:
202610191839.0
公开号:CN122067566A 主分类号:G11C5/02
申请人:
芯原微电子(上海)股份有限公司
;
芯原微电子(海南)有限公司
申请日:2026.02.10 公开日:2026.05.19
发明人:
林淮
;
邓廷
;
金小卫
;
黄萍
;
俞淑贞
摘要:本发明提供一种数据存储排序电路及其方法、处理单元、芯片、终端,其中,数据存储排序电路包括:第一存储模块、第二存储模块、第一读写模块和第二读写模块,其中,第一读写模块与第一存储模块对应设置,第二读写模块与第二存储模块对应设置;通过第一读写模块和第二读写模块对第一存储模块和第二存储模块进行交互读写,以将输入数据中的高位数据和低位数据进行分区重排序。通过本发明提供的数据存储排序电路及其方法、处理单元、芯片、终端,可以减少现有数据存储、传输和计算过程中存在的高能耗问题。
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7:
[发明]
信号处理方法、装置、电子设备和存储介质
申请号:
202211663213.3
公开号:CN115865257A 主分类号:H04J3/06
申请人:
芯原微电子(上海)股份有限公司
申请日:2022.12.23 公开日:2023.03.28
发明人:
李帅
摘要:本发明实施例提供了一种信号处理方法、装置、电子设备和存储介质,涉及信号处理领域。其中,信号处理方法包括:获取输入信号,每获取到所述输入信号的一个信号帧,生成与所述信号帧对应的第一时间戳;获取当前时刻输入的第一信号帧,和与所述第一信号帧对应的第一时间戳作为目标第一时间戳;获取所述当前时刻输出的第二信号帧,根据所述第二信号帧确定目标第二时间戳;根据所述目标第一时间戳和所述目标第二时间戳计算得到所述信号处理装置的信号延时。本发明实施例所提供的信号处理方法、装置、电子设备和存储介质,具有能够实现对信号处理过程的整个通路的总延时进行准确的测量的优点。
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8:
[发明]
一种芯片及其制造方法、电子设备
申请号:
202211685715.6
公开号:CN115863307A 主分类号:H01L23/528
申请人:
芯原微电子(上海)股份有限公司
申请日:2022.12.27 公开日:2023.03.28
发明人:
杨丽丽
;
杨铭
;
陈小芬
摘要:本申请提供一种芯片及其制造方法、电子设备,属于电子电路技术领域。该芯片包括衬底和设置于衬底上的多层金属层,其中,衬底包括第一连接点和第二连接点;多层金属层中的每层金属层中均设置有金属传输线,所述金属传输线用于连接所述第一连接点和所述第二连接点。由于距离衬底越远的金属传输线与掩膜层越远,金属传输线与掩膜层之间产生的寄生电容越小。因此,在多层金属层中设置金属传输线时,距离衬底越远的金属传输线与掩膜层之间产生的寄生电容越小,相较于现有的利用靠近衬底的金属层作为高速信号的传输路径的方式,本方案中的寄生电容更小,从而降低了对高速信号完整性的影响。
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9:
[发明]
一种实景测试设备
申请号:
202211519317.7
公开号:CN115733971A 主分类号:H04N17/00
申请人:
芯原微电子(上海)股份有限公司
申请日:2022.11.30 公开日:2023.03.03
发明人:
谢碧芳
摘要:本申请提供一种实景测试设备,包括:设置于密闭空间内的背光板组件、运动组件和道具盒组件;所述背光板组件设置于所述密闭空间的第一侧面;所述第一侧面为所述密闭空间内与待测件相对的侧面;所述运动组件与所述道具盒组件设置于所述第一侧面与所述待测件之间;所述运动组件用于模拟物体的运动,所述道具盒组件用于模拟静态物体;其中,所述背光板组件包括光源阵列,所述光源阵列包括多个光源;其中,随着所述光源阵列中发光的所述光源的组合不同,形成不同的背景。通过上述实景测试设备,可以在对待测件测试过程中更换背景,实现背景变化的拍摄测试,满足测试需求。
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10:
[发明]
降噪方法及装置、测试方法及装置、电子设备和存储介质
申请号:
202211510551.3
公开号:CN115767359A 主分类号:H04R1/10
申请人:
芯原微电子(上海)股份有限公司
申请日:2022.11.29 公开日:2023.03.07
发明人:
涂少博
;
李帅
摘要:本发明的实施例提供了一种降噪方法及装置、测试方法及装置、电子设备和存储介质,涉及声学及音频领域。其中,降噪方法,包括:获取环境噪声,并获取环境噪声的环境频谱特征;获取频谱特征‑滤波器系数对应关系;根据环境频谱特征从频谱特征‑滤波器系数对应关系中获取目标频谱特征单元;获取频谱特征‑滤波器系数对应关系中与目标频谱特征单元所对应的滤波器系数单元中的滤波器系数作为环境滤波器系数;根据环境滤波器系数生成降噪音频。本发明实施例所提供的降噪方法及装置、测试方法及装置、电子设备和存储介质能够根据噪声的方向确定最合适的滤波器系数,提升降噪效果。
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