摘要：本发明公开了一种集成电路高精度测试装置，包括主基座，所述主基座的顶部滑动连接有升降杆，所述升降杆的顶部通过铰链活动安装有手柄，所述主基座的内部设置有测试组件，所述升降杆的底部焊接连接有上基板，所述上基板的底部通过螺栓固定有上固定盘，所述主基座的底部内部焊接固定有下固定盘，所述上基板的内壁滑动安装有滑杆，所述滑杆的底端焊接固定在主基座的底部内壁，所述测试组件包括固定筒，所述固定筒的两侧对应开设有通孔，所述通孔的横截面为方形，所述固定筒的一端内部套接有拆卸头，所述夹紧块的一侧焊接固定有导电触点，该装置解决了当前实用性差的问题。

摘要：本发明提供了一种自动化芯片测试装置，涉及芯片生产技术领域，包括步进输送带和安装座，所述安装座设在步进输送带一侧的前端位置处，且安装座的一侧设有托架，所述托架的内侧设有下料槽，且下料槽朝向步进输送带上表面，所述安装座顶部的边缘处转动设有转筒，且转筒设有三组；所述转筒外侧的下方设有支撑边；本发明通过步进输送带步进输送芯片，以方便后续的检测，在上料时，通过支撑边来支撑芯片垛，随着转筒的移动，当旋转到缺口时，一个芯片掉落至下方的步进输送带上，随后倾斜边立即支撑住下一个芯片，直到再次旋转到缺口落下下一个芯片，以此达到自动化一个个下料的功能，无需人工放置，也无需吸盘吸附或者夹持，上料更加稳定。

摘要：本发明提供了一种可同时测试多个待测芯片的测试装置，涉及芯片检测技术领域，包括支架和背架，所述背架的前侧设有支板，所述支架上设有第一输送部和第二输送部，所述第一输送部绕过支板，所述第二输送部绕过支架下方，所述第一输送部外侧设有夹持爪，所述第二输送部外侧设有定位槽；所述背架前侧的上方设有电机，且电机的输出端设有第一支臂；本发明通过探测块对芯片进行测试，通过拉动滑杆上升下降，使得定位杆在导向槽内移动，当移动至导向槽的尖角处时，对定位杆导向旋转，使得后轴臂旋转，从而通过转轴带动前臂旋转，使得探测块向上或向下，从而可同时测试多个流水线的待测芯片，提高效率。

摘要：本发明涉及芯片测试机领域，具体的公开了一种自动标记坏点的芯片测试机，包括底座，所述底座的顶部滑动安装有安装板，底座的顶部安装有限位板，底座的顶部两端均滑动安装有与限位板相匹配的夹持板，夹持板与限位板之间安装有放置盘，放置盘的内底部开设有固定孔，放置盘的内底部位于固定孔的两侧均开设有若干个放置孔，放置孔的内壁上转动安装有放置板，放置板的底部靠近固定孔的一端安装有磁铁片，安装板靠近限位板的一侧底部安装有支撑板，支撑板的顶部安装有固定板，固定板的顶部安装有与磁铁片相匹配的电磁铁。本发明在使用时无需工作人员手动对出现坏点的芯片进行分拣拿取，使用时更加方便。

摘要：本发明涉及测试设备技术领域，具体的公开了一种指纹芯片抗干扰测试装置，包括底盘、指纹芯片测试机、指纹芯片和测试电路板。本发明中第二电动滑块在螺旋导轨上沿螺旋导轨的开设轨迹进行螺旋运动，第二电动滑块在螺旋轨道上进行运动时，可通过调整第二电动滑块的行进速度，可使得第二电动滑块在螺旋导轨上进行时快时慢的叫错行进速度，进而使得第二电动滑块侧面第二滑杆上的滑套在第二滑杆上频繁发生横向滑动，进而对滑套的横向位置进行调整，并且滑套在第二滑杆上频繁滑动压缩第二弹簧，滑套在第二弹簧的弹性复位力的作用下增加在第二滑杆上横向滑动的幅度，进而更好的使得滑套外壁安装的电磁脉冲干扰器更好的调整其干扰位置。

摘要：本发明公开了一种多通道多功能的芯片测试机及测试方法，测试机包括：上位机和芯片测试机；上位机设置控制参数并发送至芯片测试机及显示测试结果；芯片测试机包括：通信板、背板、多个测试板卡、多个面板、转接板及芯片承载板；通信板接收上位机发送的控制参数并通过背板传给测试板卡，及接收转接板的测试结果并传给上位机；每个测试板卡均包括：主控芯片及多通道多功能测试资源，主控芯片基于控制参数，用于控制多通道多功能测试资源选择、控制待测芯片多功能测试，及协调其他板卡工作；通过面板将全部测试资源连接至转接板，对接入的待测芯片进行相应功能测试。本发明能同时测量多个芯片且对每个芯片实现多功能测试，测试效率高，功能全面。

摘要：本申请公开了一种芯片老化测试系统、方法、存储介质、电子设备。该系统包括：主控芯片，电源组件包括电源芯片，接收主控芯片发送的供电指令，并根据供电指令为被测芯片供电；温控组件包括温度控制芯片温度控制芯片接收主控芯片发送的测温指令，并根据测温指令对被测芯片进行温度测量，并将测量的温度数据返回给主控芯片；以及温度调节设备，接收主控芯片发送的调节指令，并响应调节指令对被测芯片的温度进行调节；数据传输组件包括电平转换电路，将主控芯片发送的测试数据发送到被测芯片，对被测芯片进行老化测试。解决了相关技术中的老化测试的方式，需要人为监控和调节，存在效率低下的问题。

摘要：本发明公开了用于芯片仓储的物料控制方法及装置，包括：在芯片仓储物料入库时，扫描芯片仓储物料对应的集成标签单据；基于唯一码，判断在芯片仓储系统中是否存在与唯一码相匹配的待入库信息；如果存在，则确定芯片仓储物料对应的入库权限为允许入库；在芯片仓储物料出库时，扫描集成标签单据；通过集成码以及唯一码，在芯片仓储系统中获取芯片仓储物料的物料信息，对物料信息进行锁定装箱；在进行锁定装箱时，基于预设规则生成第二箱号；在芯片仓储系统中建立集成标签单据与第二箱号之间的映射关系；基于芯片仓储系统，执行物料信息追溯以及账务数据处理。可见，本发明能够使用一物一码和集成标签的模式，根据唯一码进行具体物料的生产追溯。

摘要：本发明的实施方式提供了用于芯片工厂的巡检控制方法及装置。该方法包括：获取预设时间段内的芯片工厂的历史巡检信息和所述预设时间段内的问题报错信息；其中，所述预设时间段的时长为预设天数，且所述预设时间段的终点日期为当前日期；对所述历史巡检信息和所述问题报错信息进行分析，得到当前巡检方案；将所述当前巡检方案发送至巡检人员的终端设备，以使所述巡检人员基于所述当前巡检方案对所述芯片工厂进行巡检。本发明能兼顾预设时间段内的巡检信息，以使得到的巡检方案更加全面，提升了针对芯片工厂的巡检效率。

摘要：本发明涉及测试机接口技术领域，具体的公开了一种用于测试机的接口防呆装置，包括壳体，所述壳体的一端开设有安装孔，安装孔的内部滑动安装有连接板，壳体的内壁上位于安装孔的两侧均安装有防护板，两个防护板的相对面远离壳体内壁的一端安装有挡板，连接板远离壳体内壁的一端安装有移动板；防护板的侧面按长度方向开设有若干个导向孔，连接板远离壳体内壁的一端开设有放置槽，放置槽的两端均贯穿连接板。本发明当连接板和连接头连接出现短路时可使连接板和连接头快速断开连接。