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1:
[发明]
一种低噪高效风力叶片
申请号:
201710327568.8
公开号:CN107061192A 主分类号:F03D80/00
申请人:
王旭
申请日:2017.05.11 公开日:2017.08.18
发明人:
王旭
;
张岗
摘要:本发明涉及一种低噪高效风力叶片,包括叶根部、翼展部、叶尖部以及降噪部件和导风部件。通过对设置在叶片两侧的降噪部件进行分布和形式的合理设定,配合导风部件的合理设定,使得该风力叶片噪音大幅度降低。并且通过合理设定导风部件,使得风力利用效率得到提升,且避免了叶片转动过快而造成停机事件发生的概率。
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2:
[发明]
四足机器人足式里程计和IMU的融合方法、终端及存储介质
申请号:
202311240785.5
公开号:CN117309000A 主分类号:G01C25/00
申请人:
盈合(深圳)机器人与自动化科技有限公司
申请日:2023.09.22 公开日:2023.12.29
发明人:
沈岗
;
张旭
摘要:本申请涉及一种四足机器人足式里程计和IMU的融合方法、终端及存储介质,其中,融合方法包括:获取足式里程计、IMU惯性传感器的平移数据,及系统噪声,其中,平移数据包括平移向量及平移噪声;根据足式里程计及IMU惯性传感器的平移噪声,对系统噪声进行修正;根据修正后的系统噪声、足式里程计及IMU惯性传感器的平移向量,计算足式里程计与IMU惯性传感器融合后的平移向量。本申请提供的四足机器人足式里程计和IMU的融合方法、终端及存储介质,能够根据足式里程计及IMU的平移噪声,对系统噪声进行修正;并根据修正后的系统噪声、足式里程计及IMU的平移向量,计算足式里程计与IMU融合后的平移向量,提升平移向量的可信度及四足机器人运动预测的准确性。
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3:
[发明]
IC设计版图和扫描电镜图像的配准方法及关键尺寸的测量方法
申请号:
202211697802.3
公开号:CN116203804A 主分类号:G03F7/20
申请人:
上海精测半导体技术有限公司
申请日:2022.12.28 公开日:2023.06.02
发明人:
王岗
;
刘骊松
;
张旭
摘要:本发明提供了一种IC设计版图和扫描电镜图像的配准方法及关键尺寸的测量方法,所述配准方法,包括:对第一IC设计版图进行二值化操作,以获取第二IC设计版图;对第一扫描电镜图像进行滤波操作,以获取第二扫描电镜图像;获取第一配准位置;对第二扫描电镜图像进行边缘提取,以获取第三扫描电镜图像;获取第一局部图像和第二局部图像;通过在采样区域内调整第一局部图像和第二局部图像之间的相对位置,进行迭代计算并在所述相对位置满足预设条件时停止迭代计算,以获取第二配准位置。本发明基于IC设计版图的全局图像和局部图像对IC设计版图和扫描电镜图像进行配准,能够获取更加精确的配准结果。
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4:
[发明]
基于扫描电镜图像的线粗糙度量测方法
申请号:
202311127800.5
公开号:CN117011285A 主分类号:G06T7/00
申请人:
上海精测半导体技术有限公司
申请日:2023.09.01 公开日:2023.11.07
发明人:
王岗
;
刘骊松
;
张旭
摘要:本发明公开了一种基于扫描电镜图像的线粗糙度量测方法,能够提高该方法的稳定性和准确性,该方法包括:S1、获取扫描电镜图像以及量测区域和至少两个子区域,获取预设的平滑滤波器的平滑参数和预设的阈值条件;S2、基于平滑滤波器在当前的平滑参数下分别平滑每个子区域,确定每个子区域的候选边缘点的位置;S3、计算量测区域的全部候选边缘点的位置方差,判断位置方差是否满足阈值条件,当其不满足阈值条件时调整平滑滤波器的平滑参数,然后重复执行步骤S2‑S3,直至其满足阈值条件,当其满足阈值条件时,获得量测区域的所有子区域的候选边缘点并作为目标边缘点;S4、根据量测区域的所有子区域的目标边缘点的位置,计算线粗糙度。
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5:
[发明]
一种晶圆上关于圆形图案的测量点的定位方法
申请号:
202410309061.X
公开号:CN118197977A 主分类号:H01L21/68
申请人:
上海精测半导体技术有限公司
申请日:2024.03.19 公开日:2024.06.14
发明人:
王岗
;
刘骊松
;
张旭
摘要:本发明提供了一种晶圆上关于圆形图案的测量点的定位方法,该方法包括如下步骤:获取测量点的SEM图像、模板图像和至少包括阈值T及预设测量框的位置和范围的参数信息,对SEM图像和模板图像进行图像匹配确定第一偏移量;获取SEM图像中待测量圆形图案的直径和模板图像中与其对应的参考圆形图案的直径,并作差得到直径差值;当其绝对值不小于阈值T时,基于第一偏移量和圆心差值得到第二偏移量,基于第二偏移量获得SEM图像中的测量框的位置和范围。本发明提供的晶圆上关于圆形图案的测量点的定位方法,能够基于同一个测量点模板图像定位具有不同直径的不同晶圆,能够提高当基于同一个测量点模板图像定位与其不对应的晶圆时对测量点定位的准确性。
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6:
[发明]
一种晶圆上关于线的测量点的定位方法
申请号:
202410309063.9
公开号:CN118197978A 主分类号:H01L21/68
申请人:
上海精测半导体技术有限公司
申请日:2024.03.19 公开日:2024.06.14
发明人:
王岗
;
刘骊松
;
张旭
摘要:本发明提供了一种晶圆上关于线的测量点的定位方法,该方法包括如下步骤:获取测量点的SEM图像、模板图像和至少包括阈值T及与模板图像对应的预设测量框的位置和范围的参数信息,确定SEM图像和模板图像的第一偏移量G_Offset和确定与模板图像中参考线匹配的待测量线;计算SEM图像中待测量线的线宽L1和模板图像中参考线的线宽L2,得到线宽差值Diff_L;比较Diff_L与阈值T;当Diff_L不小于T时,基于G_Offset和Diff_L得到第二偏移量Sum_L,基于第二偏移量Sum_L以及预设测量框的位置和范围获得SEM图像中的测量框的位置和范围。本发明提供的晶圆上关于线的测量点的定位方法,能够基于同一个测量点模板图像定位具有不同线宽的不同晶圆,能够提高当基于同一个测量点模板图像定位与其不对应的晶圆时对测量点定位的准确性。
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7:
[发明]
一种轨道车辆斜塞式塞拉门机构
申请号:
200910225762.0
公开号:CN101722960A 主分类号:B61D19/02(2006.01)I
申请人:
青岛四方新诚志卓客车配件有限公司
申请日:2009.12.03 公开日:2010.06.09
发明人:
王旭东
;
逄锦友
;
张吉岗
摘要:一种轨道车辆斜塞式塞拉门机构,由驱动机构1、承载轴2、传动载体3、双轴挂座4、导轨5、杠杆组6、连杆7、电控棘爪12和门体联动机构组合构成,安装在轨道车辆车门处的车体内墙机架上,其塞拉驱动端与门体开门侧的上边部固接。当门体被驱动沿着承载轴2作纵向移动的同时还可以在导轨5的引导下作横向塞入(出)移动。该机构可适应电动和气动两种类型塞拉门的技术要求,两者之间除驱动机构不同外其余结构完全相同,从而使塞拉门大范围实现简统化。该机构高度集成、结构紧凑、动作灵活、稳定可靠、占用空间少、密封效果好、经济效益明显,可广泛应用于各种轨道车辆,市场前景相当广阔。
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8:
[发明]
一种应用于简支梁桥的桥面连续装置及桥面连续方法
申请号:
201210588176.4
公开号:CN103015313A 主分类号:E01D19/06(2006.01)I
申请人:
浙江大学
申请日:2012.12.31 公开日:2013.04.03
发明人:
王岗
;
申永刚
;
张鹤
;
谢旭
摘要:本发明提供一种应用于简支梁桥的桥面连续装置,包括八字形结构,八字形结构的两侧具有用于和桥面梁体连接的安装部位,所述安装部位与桥面梁体之间通过Z字形钢筋连接。本发明还提供应用上述桥面连续装置的桥面连续方法,将桥面连续装置放置在桥面连续部位两侧的混凝土梁体上,将安装部位通过螺栓与桥面连续部位两侧的梁体连接,安装部位与梁体之间铺设橡胶垫层;橡胶垫层使得安装部位与梁体紧密结合,同时约束其纵向形变。本发明改变传统桥面连续的形式,利用八字形钢板装置结合Z形钢筋,达到避免桥面连续部位混凝土发生开裂的目的。此外,本发明提出的桥面连续装置,结构形式简单,在工厂易于加工,在现场便于施工,质量容易保证。
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9:
[发明]
井字架吊具
申请号:
201310042918.8
公开号:CN103086259A 主分类号:B66C1/22(2006.01)I
申请人:
首钢长治钢铁有限公司
申请日:2013.02.04 公开日:2013.05.08
发明人:
雷山霖
;
包连栋
;
张旭岗
摘要:本发明的井字架吊具,包括井字架和设置在井字架两端的吊环,所述井字架由两根平行的横梁和固定在两根横梁上部,分别连接两根横梁的两根中心纵梁组成;所述两根横梁每一端各通过一根边纵梁连接,边纵梁的两端上部各固定有一个吊环。所述吊环的环孔方向与横梁方向平行。所述边纵梁的长度比两根横梁之间的距离长一倍。所述中心纵梁的长度是横梁长度的一半。所述中心纵梁之间的距离,是横梁长度的1/4~1/3。本发明的井字架吊具,在高炉炉顶设备大中修时,用它上下运输上密封阀至气密箱之间的设备设,即减轻了劳动强度、也提高了工作效率并且安全系数高。
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10:
[发明]
一种有机半导体的n型掺杂方法及其应用
申请号:
202110163646.1
公开号:CN112993161A 主分类号:H01L51/00
申请人:
南方科技大学
申请日:2021.02.05 公开日:2021.06.18
发明人:
郭旭岗
;
郭晗
;
张显鹤
;
冯奎
摘要:本发明提供了一种有机半导体的n型掺杂方法及其应用,所述n型掺杂方法包括以下步骤:将过渡金属催化剂、有机半导体和分子掺杂剂在基底上混合反应,得到被掺杂的有机半导体。本发明提供的n型掺杂方法掺杂效率高,掺杂速度快,掺杂后的有机半导体电导率高。
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573
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1-10
条
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