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1:
[发明]
使用Perl语言对电路verilog网表描述进行可测性设计的系统及方法
申请号:
201310726411.4
公开号:CN103699422A 主分类号:G06F9/45(2006.01)I
申请人:
哈尔滨工业大学
申请日:2013.12.25 公开日:2014.04.02
发明人:
俞洋
;
杨智明
;
彭喜元
;
陈诚
摘要:使用Perl语言对电路Verilog网表描述进行可测性设计的系统及方法,涉及集成电路可测性设计技术领域。本发明的目的是为可测性设计人员提供便捷的实现过程,提高电路可测性设计的效率和正确性,增加电路的可测性和可靠性,同时降低电路的测试成本。Verilog网表解析模块完成对待进行可测性设计的电路网表的解析过程,获得必要的信息;电路层次展开模块完成对使用自顶向下方式设计的电路的展开过程,使电路网表以底层元件的方式直接描述;触发器替换模块完成不可测触发器的替换过程,使其成为具有可测性的触发器;扫描链连接模块完成扫描链的连接;测试封装模块完成对最后的测试封装。本发明完全适于集成电路的可测性设计。
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2:
[发明]
一种低温下光学材料折射率的测量方法
申请号:
201610899039.0
公开号:CN106546560A 主分类号:G01N21/41(2006.01)I
申请人:
浙江荣智博智能科技有限公司
申请日:2016.10.14 公开日:2017.03.29
发明人:
智喜洋
;
胡建明
;
王达伟
摘要:本发明涉及光学系统成像和空间光学探测领域,公开了一种低温下光学材料折射率的测量方法。方法为:a.测量低温下真空温控室(2)的窗口对光线产生的偏折角Δ
w
;b.测量低温下待测棱镜(24)的顶角α;c.确定待测棱镜(24)对光线产生最小偏向角的位置,并测出最小偏向角δ;d.计算待测棱镜(24)在所测低温和所测光源波长的环境下的低温折射率n。本发明可实现在30K~300K温度范围内的折射率高精度测量,测量精度可达到10
‑4
,可用于研究光学材料属性在低温下的变化规律,为空间光学系统的设计、优化、应用性能评估提供精确可靠的折射率数据,为光学材料特性研究提供有效的测试方法、手段和基础数据。
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3:
[发明]
一种基于多特征的DC-DC变换器关键器件参数辨识方法
申请号:
202010220636.2
公开号:CN111464022A 主分类号:H02M3/156
申请人:
哈尔滨工业大学
申请日:2020.03.25 公开日:2020.07.28
发明人:
杨智明
;
俞洋
;
郭晗
;
彭喜元
摘要:一种基于多特征的DC‑DC变换器关键器件参数辨识方法,属于电力电子技术领域,解决了现有电力电子变换器主电路参数辨识方法中,存在建模复杂,需要引入的电流传感器,增加电路复杂度,易引发新的故障,且降低了待辨识器件所在电路的可靠性的问题。本发明获取待进行参数识别的DC‑DC变换器的M个关键元器件的参考信号和采样信号,采用遗传算法,分别对每个器件的特征进行选择,获取每个元器件的敏感特征,利用每个器件的敏感特征和参考特征向量,建立基于回归算法的变换器关键元器件参数辨识模型,获取每个关键器件的特征参数值。本发明适用于DC‑DC变换器器件参数识别。
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4:
[发明]
光学系统空域信息传递分析方法
申请号:
201410578093.6
公开号:CN104360481A 主分类号:
申请人:
哈尔滨工业大学
申请日:2014.10.25 公开日:2015.02.18
发明人:
任智斌
;
曲荣召
;
郑烁
;
马驰
;
刘月
;
智喜洋
摘要:光学系统空域信息传递分析方法,属于信息光学与光学系统成像性能分析技术领域。所述方法包括如下步骤:一、二维物矩阵、像矩阵的一维化处理,二、二维光学系统空域信道矩阵的构建,三、光学系统空域信息传递性能参数的计算方法。该方法将信息论的分析方法应用于光学系统空域成像性能分析,能够更客观地描述光学系统的信息传递规律。本发明提供的方法对二维的物矩阵、像矩阵进行一维化处理后,根据光学系统的点扩散函数(PSF)及物元素与像元素的对应关系写出二维光学系统空域信道矩阵,使像的计算方法由物与PSF的卷积运算转化为物向量与二维光学系统空域信道矩阵的乘积运算,从而实现将信息论应用于光学系统空域成像性能的评价。
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5:
[发明]
基于光强传输矩阵的光学系统成像复原方法
申请号:
201510009310.4
公开号:CN104574315A 主分类号:
申请人:
哈尔滨工业大学
申请日:2015.01.08 公开日:2015.04.29
发明人:
任智斌
;
曲荣召
;
郑烁
;
马驰
;
丰恒
;
智喜洋
摘要:一种基于光强传输矩阵的光学系统成像复原方法,其步骤:第一步、将二维像矩阵中的每一行元素依次首尾相接排列为一维像向量;第二步、根据光学系统的PSF矩阵和一维像向量求解光学系统的二维光强传输矩阵;将二维光强传输矩阵进行求逆的数学计算,得到二维光强传输逆矩阵;第三步、将一维像向量乘以二维光强传输逆矩阵求得一维复原物向量,将一维复原物向量二维化得到二维复原物矩阵。该方法利用矩阵运算实现了成像复原,避免了以往成像复原技术中的反卷积方法的病态问题及频域复原方法的高频缺失问题,复原物矩阵与原始物矩阵的误差极小,复原精度极高。
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6:
[发明]
一种大像面内扫描分时成像光学系统
申请号:
201510008474.5
公开号:CN104483750A 主分类号:
申请人:
哈尔滨工业大学
申请日:2015.01.08 公开日:2015.04.01
发明人:
任智斌
;
郑烁
;
曲荣召
;
马驰
;
丰恒
;
智喜洋
摘要:一种大像面内扫描分时成像光学系统,属于遥感光学系统设计与像质分析技术领域。所述光学系统包括主镜、次镜、平面反射镜、三镜、内扫描镜和像面,在成像过程中,光学系统相对于地面保持静止状态,地面辐射的光线经过主镜收集并反射到次镜的表面,次镜将光线会聚到平面反射镜表面,平面反射镜将光线旋转90°后光线反射到三镜表面,三镜将光线会聚并反射到内扫描镜表面,内扫描镜将光线反射到像面供CCD接收。本发明提出的大像面内扫描分时成像光学系统仅采用了一个CCD在不丢失像面信息的情况下,实现了长0.530m、宽0.108m的光学像面的光电变换。与CCD拼接方法相比,具有采用的CCD数量少、不损失光学像面信息的优点。
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7:
[发明]
一种具有表面微浮雕结构的硬币及其压制模具的全息防伪方法
申请号:
201510448483.6
公开号:CN104991433A 主分类号:
申请人:
哈尔滨工业大学
申请日:2015.07.28 公开日:2015.10.21
发明人:
任智斌
;
曲荣召
;
郑烁
;
胡佳盛
;
智喜洋
摘要:本发明公开了一种具有表面微浮雕结构的硬币及其压制模具的全息防伪方法,其步骤如下:第一步、硬币表面光学全息图的记录过程;第二步、硬币表面光学全息图的再现过程;第三步、硬币表面计算全息图的数值计算;第四步:硬币表面微浮雕二元光学全息图的设计,将计算全息图转化为二元光学表面微浮雕结构;第五步:根据硬币表面微浮雕二元光学全息结构确定模具钢表面微浮雕结构;第六步、采用二元光学加工方法对模具钢表面微浮雕结构进行加工。该方法可提升硬币及其加工印章的防伪水平,为大众提供一种新型的、简单快速的一线防伪技术。
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8:
[发明]
电动冲击工具
申请号:
200510064740.2
公开号:CN1709651 主分类号:B25D16/00
申请人:
株式会社牧田
申请日:2005.04.18 公开日:2005.12.21
发明人:
新间康智
;
糟谷喜洋
;
古泽正规
摘要:为了提供可有效提高电动冲击工具的操作性的技术,本发明的电动冲击工具具有进行冲击动作的工具钻头、驱动工具钻头的电动机、仅在分别被接通时电动机才被通电驱动的第一与第二开关、进行工具钻头的冲击动作模式切换的模式切换机构,其中,第一开关是被从接通位置侧向非接通位置侧施力、平时被置于非接通位置的开关;第二开关是在接通位置与非接通位置之间进行切换的同时、被置于切换位置的开关。模式切换机构构成为可在第一冲击模式与第二冲击模式之间进行切换,在所述第一冲击模式下,容许使用者的对第一开关的接通操作的同时、将第二开关固定于接通位置;而在所述第二冲击模式下将第一开关固定于接通位置同时,容许使用者对第二开关的接通操作。
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9:
[发明]
一种利用奇偶校验码进行故障在线纠错装置及方法
申请号:
201110021671.2
公开号:CN102034555A 主分类号:G11C29/42(2006.01)I
申请人:
哈尔滨工业大学
申请日:2011.01.19 公开日:2011.04.27
发明人:
俞洋
;
杨智明
;
付宁
;
李嘉铭
;
乔立岩
;
彭喜元
摘要:一种利用奇偶校验码进行故障在线纠错装置及方法,属于在线测试领域,本发明为解决现有利用纠错码对嵌入式存储器进行在线测试时,带来的冗余开销过于庞大的问题。本发明它的分为检错和纠错两个过程,其中检错的步骤如下:检测是否有新的地址输入或者读写信号改变;对数据计算器校验码;读出数据并与已存校验码比较;将比较的结果写入故障标志位存储器;将故障地址以及纠错码跟别写入相应存储器。纠错的过程:检测是否有新的地址输入或者读写信号改变;判断故障标志位;查找纠错码;本发明是在不改变存储器以存储数据,不影响存储器正常读写操作的条件下对嵌入式存储器进行在线测试,保证检测到所有奇数个故障。
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10:
[发明]
一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法
申请号:
201010572388.4
公开号:CN102043122A 主分类号:G01R31/317(2006.01)I
申请人:
哈尔滨工业大学
申请日:2011.01.17 公开日:2011.05.04
发明人:
俞洋
;
杨智明
;
付宁
;
王帅
;
乔立岩
;
彭喜元
摘要:一种改进扫描链单元及基于该单元的非并发测试方法,属于片上系统测试领域,本发明为解决现有基于扫描链的非并发方式的在线测试方法存在对时序的要求比较严格、控制难度大、且无法一次移入多组测试向量的问题。本发明所述改进扫描链单元用于代替片上系统中的D触发器,该单元中有两个触发器和两个选择器,第一触发器是构成原电路扫描链的基本单元,实现与原D触发器相同功能,第二触发器是为进行测试时保存数据而引入的。两个数据选择器通过使能端来控制数据的流向,第一选择器控制第二触发器中的数据是否可以送到第一触发器,第二选择器控制第一触发器的工作状态或扫描状态。此单元可输入多组测试向量连续测试。测试前后不改变电路的运行状态。
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