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1:
[发明]
半导体装置
申请号:
201810846296.7
公开号:CN110349612A 主分类号:G11C16/04
申请人:
东芝存储器株式会社
申请日:2018.07.27 公开日:2019.10.18
发明人:
櫛田桂一
摘要:本发明的半导体装置具备锁存电路,该锁存电路具有能够保存相反极性的数据的第1、第2节点。第1晶体管位于第1节点与第1位线之间,且栅极电极连接于字线。第2晶体管位于第2节点与第2位线之间,且栅极连接于字线。电源线电连接于锁存电路。第3晶体管位于第1节点与基准电压源之间。第4晶体管位于第2节点与基准电压源之间,且栅极电连接于基准电压源。信号线电连接于第3晶体管的栅极。在第1模式下,电源线对锁存电路供给第1电压,信号线使第3晶体管为非导通状态,在第2模式下,电源线对锁存电路供给第2电压,信号线使第3晶体管为导通状态而将第1节点连接于基准电压源。
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2:
[发明]
带有存储器的半导体器件和存储器测试的方法
申请号:
200510062803.0
公开号:CN1667755 主分类号:G11C29/00
申请人:
株式会社东芝
申请日:2005.02.07 公开日:2005.09.14
发明人:
櫛田桂一
;
平林修
摘要:公开了一种半导体器件,该半导体器件具有:存储数据的数据存储器和存储与所述数据对应的ECC码的码存储器。该半导体器件包括ECC电路,该电路将用于执行所述数据存储器的测试的测试码模式作为所述数据输出到所述数据存储器,并且由该测试码模式生成具有差错检测功能的码信息,作为所述ECC码输出到所述码存储器。
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