摘要：本发明公开了一种用于养殖食蟹猴的半网床笼舍，包括网床和笼舍，所述网床水平固定在所述笼舍内，覆盖所述笼舍地面面积的1/3到2/3，且离所述笼舍地面具有一定的距离。所述网床与所述笼舍地面的距离为45-85cm，所述笼舍的地面相对于水平面倾斜，倾斜角度为10°≤a≤20°，所述笼舍面积为25-35平方米，食蟹猴的饲养密度为1只/2平方米。本发明所述的半网床笼舍具有缓冲弹跳力量，更符合猴子的树栖习性，提高幼猴成活率；使原来的养殖笼舍的活动空间和高度增加30%以上，提高猴群的抗病能力，防止疾病传播；同时饲料浪费减少80%以上，为企业节约了养殖成本。

摘要：本发明整体涉及治疗COVID‑19的组合物和通过施用本文公开的组合物来治疗COVID‑19的方法。这些方法还包括使用本公开中描述的组合物治疗COVID‑19后综合征和心肌病。

摘要：本公开整体涉及组合物和通过施用本文公开的组合物来治疗疾病的方法。本文提供了DSG2融合多肽和相关方法，包含治疗和改善心肌细胞功能的方法。

摘要：一种无公害天然植物农药，是采用天然植物经过蒸煮制成，纯属天然性、性温、无公害、对酸性土壤有改良作用、对环境不污染、对各种农林害虫除杀率达95％以上，对农林业的丰收起着很好的作用效果。是理想中的农药。

摘要：本发明涉及一种CCD成像设备相对光谱响应特性的标定方法，包括：A.以已知光谱辐射分布的光源为测量物体，利用待标定的CCD成像设备对测量物体成像，获取图像并分析得到测量值；B.通过调整光源的热力学温度和/或采用滤色片，改变进入CCD成像设备的光谱辐射通量；C.根据已知的CCD成像设备辐射传输数学物理方程，构造描述测量值与相对光谱响应之间对应关系的数学物理方程组；D.以不同光谱辐射通量下CCD成像设备的测量值为已知量，求解数学物理方程组，以标定CCD成像设备的相对光谱响应特性。本发明还公开了一种CCD成像设备相对光谱响应特性的标定系统。其实现的标定方法简单有效，且可避免引入仪器的测量传递误差。

摘要：本发明公开了一种高温热源的检测方法，包括将待检测目标的入射辐射分解为可见光光谱辐射和近红外光谱辐射；采集所述可见光光谱辐射和近红外光谱辐射的图像；根据所述采集的可见光光谱辐射和近红外光谱辐射的图像，判断所述待检测目标中是否含有高温热源。本发明还公开了一种高温热源的检测装置，包括分光棱镜、第一黑白CCD传感器、第二黑白CCD传感器和高温热源诊断单元。本发明通过双路CCD和分光棱镜的技术方案，在温度范围800K～2000K高温热源的辐射与背景噪声辐射在传感器响应区间的表现强度相近时，能有效地检测出待检测目标的高温热源。

摘要：本发明涉及测量材料热物理参数技术领域，特别涉及一种非金属材料半球向全发射率的测量方法和装置，该测量方法包括步骤：在真空环境中，选用多段组合的圆柱套筒状待测样品的中间段中心区域作为目标分析区域；将通电后的加热模块贯穿嵌入待测样品的内部；通过测量待测样品中间段和目标分析区域的几何尺寸以及在热平衡状态下，真空环境内部温度、待测样品中间段和目标分析区域的表面温度和热量功率，计算出半球向全发射率。本发明采用将加热模块内嵌于圆柱套筒状待测样品内部的加热方法，满足了高温下对非金属材料进行半球向全发射率测量的需求，并且具有测量装置结构简单、测量数据精度高等优点。

摘要：本发明公开了一种高温材料法向光谱发射率测量系统，包括：真空加热单元，其上部设置测试样品，对测试样品下表面进行辐射加热；水冷套筒单元，套设在测试样品上部，将测试样品上表面置于恒温冷环境中；光纤传感器测量单元，设置在测试样品上方，测量测试样品上表面的法向光谱辐射强度；数据采集与分析单元，与光纤传感器测量单元连接，依据所测得的法向光谱辐射强度，通过多光谱反演算法，计算其法向光谱发射率。本发明实现了0.4μm～1.7μm光谱范围、600℃～1500℃温度范围的材料法向光谱发射率测量，测量无需在线辐射定标，技术实现简单、准确可靠，克服了现有光谱发射率装置价格昂贵、构造复杂、技术实施难度较大等应用的局限性。

摘要：本发明涉及材料的热物性参数测试技术领域，尤其涉及一种基于有效辐射的材料高温光谱发射率测试系统。该测试系统包括水冷真空室、真空辐射加热单元、有效辐射腔体以及辐射测量与标定单元，通过水冷真空室、真空辐射加热单元、有效辐射腔体和辐射测量与标定单元相结合进行材料光谱发射率的测试，在测试过程中无需参考黑体源，无需预先精确知晓材料温度，降低了测试难度，提高了测试精度，通过将测试样品放置于真空水冷室内避免了测试样品的高温氧化问题。

摘要：本发明公开一种光谱发射率的稳态测试系统及方法，该系统包括：样品加热单元，用于对样品进行热辐射加热，所述样品为具有漫射表面的不透明材料；光谱辐射能量测量单元，用于对样品表面的多光谱有效辐射能量进行测量；光谱发射率反演单元，用于根据多光谱有效辐射能量反演样品的光谱发射率与温度。相比于光谱发射率直接测量法，本发明提供的方法无需参考黑体源，并克服了对高温样品温度进行准确测量的依赖性；相比于基于发射率模型的光谱发射率测量方法，本发明提供的方法不依赖于光谱发射率建设模型，克服了发射率假设模型给应用带来的局限性问题。