摘要：本发明公开了配网拓扑自动识别系统，配网划分成不同的配电区域，自动识别系统包括用于存储配电设备信息的电子标签、固定设置在每个配电区域内的配电终端以及用于与所有配电区域内的配电终端通讯连接的配电主站。本发明可以实现高效率、高质量、规范化配网电气主接线图动态绘制，及时、准确的反映配电网络拓扑变化。

摘要：本发明公开了一种中容量免维护蓄电池的充放电维护方法，采集蓄电池的电压、电流及表面温度，根据采集的这些数据对蓄电池的运行状态进行分析，防止蓄电池过充电或过放电，从而延长蓄电池的工作寿命，节约成本。

摘要：本发明提供了一种厚扁材及其轧制方法，涉及制造领域。一种厚扁材的轧制方法，其包括用均热设备对钢锭进行加热和直接轧制经过加热的钢锭。直接轧制钢锭包括第一轧制阶段、第二轧制阶段、在第二轧制阶段后将所得轧件轧制为成品的第三轧制阶段。第三轧制阶段包括多个道次，且每个道次的道次压下量小于第二轧制阶段的道次压下量。本方法省去了传统的多次开坯过程，提高了生产效率、降低了生产成本，减少了多次开坯造成的切头及烧损等损失。本发明提供的厚扁材轧制方法，通过控制第三轧制阶段的道次压下量小于第二轧制阶段的道次压下量，让产品的尺寸逐渐达到要求，从而避免了购买新轧辊或者设计新型专用孔型系统带来的高昂成本以及更换轧辊导致的低劳动效率。

摘要：一种大型轴类锻件的局部镦粗成型方法以及锻造方法，涉及锻造领域，该局部镦粗成型方法先彻底破碎钢锭铸造组织，以达到满足力学性能的要求。再采用特殊锻造组合工艺JTS锻造法+FML锻造法进行锻造。最后采用胎模进行局部镦粗成形。该方法不但使成型更加容易，火次少，而且更能有效满足锻件心部探伤要求，提高锻件质量。并且由于工艺方法的改变，降低了对设备的要求，采用较低吨位的设备即可实现对大型轴类锻件的局部镦粗成型。一种大型轴类锻件的锻造方法，其包含上述大型轴类锻件的局部镦粗成型方法，其特殊的锻造组合工艺，保证了锻坯质量，该锻造方法具有成型容易，火次少，锻件品质高，设备要求低等优点。

摘要：本发明提供了一种高碳轧材及其制备方法和应用，涉及高碳轧材制造领域。本发明的高碳轧材的制备方法包括以下步骤：首先将钢材在奥氏体区加热至1130～1230℃，保温60～90min，然后于850～900℃进行终轧，再冷却至650～700℃，最后经过退火得到高碳轧材。该方法简单，控制方便，能够缓解轧材中碳化物分布不均匀，存在网状碳化物的技术问题，应用前景良好。本发明提供的高碳轧材的碳化物分布均匀，网状碳化物水平较低，其加工质量和使用寿命等性能良好，能够将其作为轴承钢进行应用。

摘要：本发明提供了一种低Al低氧合结钢的制备方法，包括：将合金原料依次进行EBT熔炼、LF熔炼和VD熔炼；所述熔炼过程中采用硅酸钙渣系。本发明中硅酸钙渣系以CaSiO3为主，防止铝酸钙渣系冶炼后期增铝；硅酸钙渣系精炼后的钢液中，其夹杂物以塑性夹杂物为主，有利于提高钢材的使用寿命。本发明提供的低铝低氧合结钢的制备方法工艺简单、控制方便，有效达标率≥100％，能有效控制[Al]≤0.01％(达标率100％)、[O]≤20ppm(达标率91％)及夹杂物，具有良好的应用前景。本发明还提供了一种低Al低氧合结钢。

摘要：本发明属于机载环控/热管理技术领域。涉及一种直升机蒸发循环制冷系统及控制方法。系统包括制冷组件、热源组件、热风收集组件、制冷控制盒；通过控冷凝风机风量和滑油散热器热空气流量，实现冷凝温度稳定控制，使蒸发器壁面温度始终在除霜温度以上，有效避免高空飞行制冷系统频繁除霜，提高飞行效率：直升机飞行高度时刻变化，舱外大气温度也随之变化，通过回收滑油废热预热舱外大气，可以减少制冷系统除霜次数，甚至避免除霜，保障飞行员高效工作，提高飞行效率。

摘要：本发明公开了一种利用淀粉及葡萄糖发酵生产一种新型α-糖苷酶抑制剂的生产工艺，其采用以可溶性淀粉及葡萄糖为主要原料的培养基，利用放线菌种子进行发酵。本发明通过菌种的优选及培养基配方的优化筛选，并严格控制发酵工艺条件，其发酵代谢产物中含有一种具有抑制α-糖苷酶活性的新型化合物，且产率及活性稳定。

摘要：本发明提供了一种激光切割机结构，包括工作平台，所述工作平台包括吸附工作台板和吸附斗构成，所述吸附斗扣设在吸附工作台板下部形成吸附室，吸附工作台板设有沿板面呈阵列均布设置的通孔连通吸附室通向工作台台面，所述吹风吸附斗设有抽风管口管路连接抽风机；本发明具有保证高精度切割，运动更加平稳、可靠，使用更安全的激光切割机结构，实现保证全工作幅面内机械系统运行的稳定性、光学参数的最小差异化和整机长时间工作的稳定性的技术效果。

摘要：本发明公开了一种快速反演薄膜生长厚度的光学监控追迹方法，属于薄膜生长光学监控技术领域。该方法建立了一种有别于导纳追迹方式的光学监控追迹方式，以膜系透射率的倒数及膜层等效位相厚度同时作为追迹对象，可以在监控过程中实时看到薄膜生长过程中光学特性的变化，并建立直观的监控透射率信号与膜层厚度的对应关系，完成薄膜生长厚度的监控。根据设计参数进行理论计算并作好预期追迹图像，通过实际光学监控信号的极值点来修正预期追迹图像，完成实际追迹图像，获得实际膜层折射率,从而修正膜系设计参数，并进行不同膜层间厚度的自动补偿。