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发明专利:2实用新型: 14外观设计: 0
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申请号:202410027383.5 公开号:CN117540281A 主分类号:G06F18/241
申请人:深圳市宇辉光学科技有限公司 申请日:2024.01.09 公开日:2024.02.09
摘要:本发明涉及光学薄膜数据优化领域,具体为一种应用于光学薄膜的数据优化分析系统及方法,包括光学薄膜分类模块、目标工艺方式确定模块、关联关系分析模块、最优环节需求数据分析模块和制备匹配模块;光学薄膜分类模块用于将光学薄膜按照所改变光波的传递特性进行分类;目标工艺方式确定模块用于输出每一类别光学薄膜对应成品率最高时的目标工艺方式;关联关系分析模块用于分析制造工艺环节的成品率与优化设计环节的特性值之间的关联关系;最优环节需求数据分析模块用于分析输出每一类别光学薄膜对应的最优环节需求数据;制备匹配模块用于匹配待制备光学薄膜类型对应的优化制备流程。
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申请号:202410170955.5 公开号:CN117705721A 主分类号:G01N21/01
申请人:深圳市宇辉光学科技有限公司 申请日:2024.02.06 公开日:2024.03.15
摘要:本发明公开了一种基于视觉智能识别的光学膜生产用检测设备,涉及光学膜检测技术领域,包括放卷台、收卷台、主机箱、透光检测组件、平整度检测组件、输送单元,放卷台设置在主机箱一侧,收卷台设置在主机箱远离放卷台的一侧,收卷台、放卷台和主机箱紧固连接,输送单元设置有两组,两组输送单元分别和主机箱内部两侧紧固连接,透光检测组件、平整度检测组件设置在主机箱内部,透光检测组件设置在主机箱内部靠近放卷台的一侧,平整度检测组件设置在主机箱内部靠近收卷台的一侧。本发明通过光源变化的检测方式降低了由于光源角度引起的不合格点位误判,极大程度的提升了检测准确性。
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