摘要：本申请实施例提供一种冠状动脉的构建方法、终端及存储介质，该冠状动脉的构建方法包括：基于采集到的多张胸腔断层图像重构的冠状动脉的第一点云数据，并基于第一点云数据，计算动态阈值；基于动态阈值确定第一点云数据上钙化斑块的预测位置；在第一点云数据上，确定预测位置所在的冠状动脉段，并沿着冠状动脉段内的中心点的位置生成横截面；在横截面中重构冠状动脉血管流道区域；基于冠状动脉血管流道区域，构建冠状动脉的第二点云数据。

摘要：本申请提供的图像数据处理方法，通过获得四维流核磁共振成像数据，其中，四维流核磁共振成像数据包括多个核磁共振影像按空间顺序排列得到的一时段内每一时刻的三维数据；获得四维流核磁共振成像数据中时刻下一数据点的速度场数据第一分量、速度场数据第二分量以及速度场数据第三分量；基于速度场数据第一分量、速度场数据第二分量以及速度场数据第三分量，生成时刻的速度强度和时刻的速度一致性参数，速度强度用于表征流体流速快慢，速度一致性参数用于表征数据点处速度方向的相似程度；至少基于速度强度和速度一致性参数，确定四维流核磁共振成像数据中血管区域的图像数据。本申请还提供了一种图像数据处理装置、图像数据处理设备和存储介质。

摘要：本申请提供了一种三维血管图像的确定方法、装置、设备及存储介质；方法包括：针对获取的血管图像序列，确定第一融合相关信息，第一融合相关信息表示不同血管图像之间的相关性信息；对第一融合相关信息进行周期性分析，确定心动周期，并基于心动周期确定血管图像序列中的舒张末期图像；根据舒张末期图像，确定待构建血管的特征边界，并基于特征边界确定舒张末期图像各自的轮廓信息；基于舒张末期图像各自的轮廓信息，进行三维图像合成，得到待构建血管的三维血管图像。通过本申请能够保留三维血管图像中更多有效细节信息，进而提高三维血管图像的准确度。

摘要：本发明公开一种NAND闪存SPI控制器的测试方法及系统，该测试方法包括：在NAND闪存的块‑页地址的页中写入数据；根据预置的断电时刻，断开NAND闪存的电源并重新连接NAND闪存的电源；校验已写页的数据是否被损坏。该测试系统包括：多个测试位，用于连接NAND闪存；单片机，通过SPI通道分别与多个测试位连接；上位机，与单片机连接，用于提供单片机的运行环境；开关，用于开闭多个测试位的电源；单片机用于执行如上述的测试方法。本发明的测试因素涉及了在NAND闪存中写入数据的过程中掉电的情况，从而能够检验SPI控制器是否能在极端情况下保护已写入的数据，以此有利于筛选出较高稳定性和可靠性的SPI控制器，改善SPI‑NAND闪存的品质。

摘要：本发明涉及电压调节的技术领域，公开了一种存储芯片的门限电压调节方法、装置、设备及存储介质，本发明通过采集存储芯片在各个时刻的栅极电压信号、编译标准以及编译结果，得到由各个时刻的信号编译行为组成的信号编译序列，基于信号编译序列提取特征得到由编译离散参数组成的编译离散序列，通过对编译离散序列的分析，生成理论编译标准，并根据对存储芯片现有的错误编译行为对理论编译标准进行调节，得到最终编译标准，以使得门限电压能够修正错误编译行为，同时可以适应存储芯片的信号现状，解决了现有技术中存储芯片的门限电压呈固定状态，无法针对栅极电压的变化及时调节，导致存储错误的问题。

摘要：本发明公开一种eMCP芯片的测试装置、方法及计算机存储介质，该测试装置用于测试具有eMMC部分和LPDDR部分的eMCP芯片，其包括：测试座，用于安装待测eMCP芯片；控制装置，用于对安装于所述测试座上的待测eMCP芯片进行测试；所述控制装置被配置为：获取测试指令；以裸机测试模式，对待测eMCP芯片的eMMC部分进行测试，输出第一测试结果；以嵌入式系统测试模式，对待测eMCP芯片的LPDDR部分进行测试，输出第二测试结果。本发明提供了一种全面、高效的eMCP芯片测试装置，可以实现在一个装置上同时对eMCP芯片的eMMC部分和LPDDR部分的测试，并输出相应的测试结果，提高了测试的效率、准确性和全面性，降低了测试成本。

摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种芯片测试方法及芯片测试系统，该芯片测试系统包括多个芯片测试卡座，每个芯片测试卡座对应包括电压管理模块和温度控制模块，电压管理模块和温度控制模块分别用于调整目标测试卡座的电压和温度，包括生成第一随机测试数据；将第一随机测试数据写入目标存储器；读取目标存储器中由第一随机测试数据写入形成的存储数据，得到第一读取数据；对第一随机测试数据和第一读取数据进行校验，得到校验结果；根据校验结果，确定目标存储器的测试结果。以此，基于灵活的随机生成的测试数据进行目标芯片的测试，能够模拟存储器在实际应用过程中写入或读取的数据，从而提升存储器测试过程的准确性和真实性。

摘要：本发明公开了一种芯片测试方法及芯片测试装置，包括：获取来自上位机的第一测试指令；根据第一测试指令，读取已连接的多个测试卡座的接口信息，得到测试卡座列表；接收由多个测试卡座中任一测试卡座发送的第一配置参数；根据第一配置参数确定发送第一配置参数的第一目标测试卡座，该第一目标测试卡座为测试卡座列表中的任一测试卡座，该第一目标测试卡座中装载了待测试的第一目标芯片；加载第一目标测试卡座中的第一驱动程序对第一目标芯片进行测试，得到第一目标芯片对应的测试结果。以此，能够根据不同测试卡座发送的配置参数，灵活加载相应的驱动程序进行测试，从而有效提高了对各种不同型号存储芯片进行功能测试的兼容性。

摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种芯片测试方法及芯片测试装置，包括：向待测设备的存储芯片写入第一数据文件，并创建进度文件以记录存储芯片中已写入第一数据文件的写入进度，其中，进度文件是存储芯片在写入第一数据文件是与写入比例对应的文件；在第一预设时刻切断存储芯片的电源；重启待测设备的电源，并根据所述进度文件校验写入所述存储芯片的第一数据文件的完整性。以此，通过进度文件可以准确地知道在断电前已经写入的数据量和位置，从而有针对性地对这些数据进行完整性校验，提高了校验效率，并提升了发现问题的准确性。

摘要：本申请实施例提供一种数据处理方法、芯片、存储介质和计算机程序产品，涉及数据处理技术领域。所述方法，应用于对NAND闪存进行管理的文件系统，该方法包括：获取写入指令；基于实时任务场景和/或待存储数据的数据特性动态确定当前工作模式；当前工作模式包括高性能模式、高寿命模式中的一种；基于当前工作模式和/或压缩策略，动态确定存储待存储数据时采用的压缩比率；高寿命模式对应的压缩比率大于高性能模式对于的压缩比率；在NAND闪存中确定用于存储待存储数据的目标存储块；基于存储页的容量，将待存储数据按照确定的压缩比率压缩后存储到目标存储块。采用该方案，提高了存储效率、存储性能、延长了NAND闪存的使用寿命。