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[发明]
【中文】一种测试GAMMA曲线的系统及其测试方法 【EN】System and method for testing GAMMA curve
申请号:
201911368428.0
公开号:CN111025699A 主分类号:G02F1/13
申请人:
【中文】深圳市国显科技有限公司【EN】SHENZHEN K&D TECHNOLOGY Co.,Ltd.
申请日:2019.12.26 公开日:2020.04.17
发明人:
【中文】张西洋
;
魏恒军
;
周昆
;
李仲儒
;
陈春荣【EN】Zhang Xiyang
;
Wei Hengjun
;
Zhou Kun
;
Li Zhongru
;
Chen Chunrong
摘要:【中文】本发明是一种测试GAMMA曲线的系统,所述的系统包括驱动板、主控装置、电源、测试显示屏和亮度测试仪器,所述的驱动板与电源连接,驱动板的一端与主控装置连接,驱动板的另外一端与测试显示屏连接;所述的亮度测试仪器设有测试探头,所述的测试探头与测试显示屏无线感触,测试探头用于检测测试显示屏,所述的亮度测试仪器与主控装置连接,属于电子技术领域。目的是可以实现快速测试GAMMA曲线,节省操作时间,提高调试效率,缩短产品开发周期。 【EN】The invention relates to a system for testing a GAMMA curve, which comprises a drive board, a main control device, a power supply, a test display screen and a brightness test instrument, wherein the drive board is connected with the power supply, one end of the drive board is connected with the main control device, and the other end of the drive board is connected with the test display screen; the brightness test instrument is provided with a test probe, the test probe and the test display screen are in wireless touch, the test probe is used for detecting the test display screen, and the brightness test instrument is connected with the main control device and belongs to the technical field of electronics. The GAMMA curve can be rapidly tested, the operation time is saved, the debugging efficiency is improved, and the product development period is shortened.
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