摘要：本发明揭示了一种冰箱隔板，包括支撑架、架设于所述支撑架上的隔板本体，所述支撑架设置于冰箱储存空间的左右侧壁上，还包括与隔板本体分开设置的副隔板，所述副隔板架设于所述支撑架上，所述副隔板能相对所述隔板本体作前后方向运动，使所述副隔板能与所述隔板本体有选择地上下重叠或位于同一水平位置上，所述隔板本体能在垂直方向旋转运动，所述副隔板与所述隔板本体上下重叠时能够与所述隔板本体一起做垂直方向旋转运动。本发明揭示的冰箱隔板组件通过变换副隔板与隔板本体的位置状态，可以达成变换冰箱存储空间的目的，使得冰箱可以存放高度较高的物品，结构简单、操作简便，且副隔板定位可靠。

摘要：本发明提供一种FPC光学芯片模组自动测试插座，其至少包括：一上盖主体和一底座，所述上盖主体压在所述底座上，上盖主体上还设有数个探针，探针与连接器容纳腔位置相对应，探针与插座主体电连接，插座主体嵌在底座上，插座主体与外接PCB板连接，连接器容纳腔内还设有一可上下移动的浮动板，上盖主体上还设有一调焦环安装孔，调焦环安装孔上安装有一调焦环，调焦安装孔的位置与镜头模块容纳腔位置相对应。该测试插座在测试时，连接器固定在浮动板上，在弹簧的弹力作用下，探针会与连接器上的针脚接触并保持一定的接触力，但不会将针脚压坏，这样就可有效提高检测的精度和效率。

摘要：本发明提供一种用于FPC光学芯片模组的测试插座，所述FPC光学芯片模组包括镜头模块和连接器，所述镜头模块通过柔性线路板与所述连接器连接，所述测试插座至少包括：一上盖主体和一底座，所述上盖主体压在所述底座上，所述上盖主体上设有镜头模块容纳腔，所述底座上设有连接器容纳腔，所述连接器容纳腔的底部设有探针，所述探针与转接PCB板连接，所述上盖主体上还设有一调焦环安装孔，所述调焦环安装孔上安装有一调焦环，所述调焦安装孔的位置与所述镜头模块容纳腔位置相对应。采用该FPC光学芯片模组可有效提高检测的精度和速度，每小时的测试量高于1KPCS。

摘要：本发明提供一种异形FPC光学芯片模组测试插座，该异形FPC光学芯片模组测试插座至少包括：一支撑架，支撑架上设有一支撑板，支撑板上设有位置相对的上盖和底座，上盖与所述支撑板的上表面铰接，底座与支撑板的下表面铰接，上盖上设有镜头模块容纳腔，底座上设有连接器容纳腔，连接器容纳腔上方设有可上下移动的浮动板，上盖与底座之间还设有转接PCB板，转接PCB板的下表面上设有探针，探针可活动的穿过浮动板，上盖上还设有一调焦环安装孔，调焦环安装孔上安装有一调焦环，调焦安装孔的位置与镜头模块容纳腔位置相对应。采用该异形FPC光学芯片模组测试插座可有效提高检测的精度和速度。

摘要：本发明提供一种多工位MEMS陀螺仪测试插座，其包括一上压板和一底座，所述上压板压在所述底座上，其特征在于：所述底座上设有一浮动板放置槽，所述浮动板放置槽内设有一浮动板，所述浮动板的底部设有弹性件，所述浮动板内设有数个元件放置槽，所述上压板上设有数个与所述元件放置槽位置相对应的凸起，所述底座上设有数组探针，所述数组探针的上端可活动的穿过所述浮动板并分别位于所述元件放置槽内，所述数组探针的下端与转接PCB板连接。采用该测试插座可有效提高MEMS陀螺仪的测试精度和速度，提高工作效率。

摘要：本发明提供一种基于PLM的服装生产系统及其使用方法，其包括一数据库服务器，数据库服务器内包括以下模块，且各模块之间能够相互连接并实现互动：初始化模块，用于初始化系统并加载预设信息；识别模块；项目设计模块；物料模块；生产模块；数据记录模块；交互模块。通过本发明所述的PLM系统，使得设计师能够根据销售情况、原材料的情况，来多方面的考虑设计衣服的款式，减少了设计的时间，同时，利用该系统，能够多部门进行协同，在设计的过程中即可对提出原料的需求，从而加速采购，通过整个系统，大大提升了服装生产过程中的效率。

摘要：本发明提供了一种电机及洗衣机，电机包括：包塑定子总成，包塑定子总成包括定子和与定子一体包塑成型的端盖主体；安装脚组件，安装脚组件与包塑定子总成相连。本申请将传动电机的端盖主体与定子一起包塑成型，形成一体式结构，可以填充定子绕完线后齿槽中留下的供绕线针运动的空间，使得漆包线没有窜动空间而完全固定，因而有利于减小电机的振动和噪音。同时，电机的安装脚组件与包塑定子总成相连，保证电机可以正常装配。

摘要：本申请提供了一种电机控制器，包括盒体及控制板，盒体沿第一方向包括间隔设置的控制端及连接端，连接端用于与电机本体连接，控制板安装于控制端，控制板用于与电机本体形成电连接以控制电机本体工作，控制板上设有电控元件。一种电机，包括电机本体及上述电机控制器，连接端与电机本体连接，控制端与电机本体间隔设置。一种电器设备，包括筒体及上述电机，电机设于筒体上。本申请提供的电机控制器，能够将控制板上的电控元件与电机本体间隔开，防止了电机本体产生的热量对电控元件的影响，提高了整个电机及电器设备的使用寿命。

摘要：本发明揭示了光学芯片模组测试装置，包括匹配的上模组及下模组，所述上模组包括测试探针，所述下模组包括芯片放置座，所述芯片放置座上形成有芯片放置槽，所述芯片放置座上形成正对所述芯片放置槽且与芯片放置槽的槽底连通的安装空间，所述安装空间内可平移地设置有LENS。本方案通过在芯片放置座上形成与芯片放置槽对应的安装空间，并在其内设置位置可调地LENS，从而可以根据测试要求，灵活调整LENS的水平位置，以保证镜头中心与芯片光学中心的对中精度在0.01mm以内，有利于降低误差干扰，提高测试结果的精度。

摘要：本发明揭示了测试探针、光学芯片模组测试探针组件、探针组件组装方法及光学芯片模组测试装置，其中测试探针包括探针主体，所述探针主体的测试端斜切形成有一斜切平面，所述斜切平面的面积大于其测试端未切割前的端面的面积。本方案结构简单，测试探针无需弹簧等结构，尺寸大大减小，能够满足小管脚步距的使用要求，通过将探针主体上形成面积大于其端面面积的斜切平面，相对于现有技术，能够有效地增加接触面积，拓宽测试探针与管脚之间的位置公差范围，同时，有利于降低测试设备的整体加工和组装难度，可以在常规加工和组装精度条件下，降低开路情况的产生，提高测试的可靠性和稳定性。