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发明专利:5290实用新型: 2197外观设计: 446
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1:[发明] 多媒体展示台
申请号:201010592561.7 公开号:CN102097045A 主分类号:G09F27/00(2006.01)I
申请人:肖迪 申请日:2010.12.16 公开日:2011.06.15
发明人:肖迪
摘要:本发明公开了一种多媒体展示台,其特征在于包括:箱体、台面、触摸感应膜、显示器、主机箱和电源;触摸感应膜贴在台面的下部,显示器设置在触摸感应膜的下部;贴有触摸感应膜的台面和显示器至上而下依次固定在箱体的顶部;台面贴有触摸感应膜的部位为透明的透明的树脂或玻璃;主机箱和电源固定在箱体内,主机箱中的存储单元用于存储各种坐标信息对应的显示信息;处理单元对触摸感应膜传回的坐标信息进行处理,同时根据不同的坐标信息调取存储单元中对应的显示信息,并通过显示器进行显示。该展示台具有操作简单、互动性和通用性强等特点,同一台机器可以在不同场合应用,相对的将成本降低,适于在楼盘销售等高端销售服务行业中广泛推广。
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申请号:201711422690.X 公开号:CN107992905A 主分类号:G06K9/62(2006.01)I
申请人:东软集团股份有限公司 申请日:2017.12.25 公开日:2018.05.04
发明人:肖迪
摘要:本发明提出一种样本数据均衡方法和装置,该方法包括对全部类中的样本数据进行聚类,并确定每种类的聚类中心点;根据每种类的聚类中心点,和类内样本距离项,以及类间距离项,生成与预设类的样本数据中的每一个样本数据对应的新的样本数据;将新的样本数据添加至预设类中,以对预设类的样本数据进行均衡。通过增加类间样本距离项,在选择插值终点时,更倾向于选择在样本空间距离其它类较远的样本数据,即,使插值终点远离类的分界面。同时,对于插值终点的选择也不仅仅是只依赖于与插值起点的欧氏距离,能够有效减弱样本数据特征分布密集化的影响。
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申请号:201811069817.9 公开号:CN109101661A 主分类号:G06F17/30(2006.01)I
申请人:东软集团股份有限公司 申请日:2018.09.13 公开日:2018.12.28
发明人:肖迪
摘要:本发明公开了一种数据样本集合中异常点的检测方法和装置,通过对数据样本集合中的各数据样本进行量化的计算,得到各数据样本的目标异常值,可以根据各数据样本的目标异常值,确定各数据样本是否为该数据样本集合中的异常点。其中,根据各数据样本与其他数据样本之间的空间距离和/或在针对数据样本集合的目标聚类分析结果中该数据样本所在的目标类簇,确定各数据样本的目标异常值。这样,有效的解决了仅仅依靠技术人员的主观判断检测出的异常点不够准确的问题,通过量化的数据样本集合中各数据样本的目标异常值,可以准确的确定出该数据样本集合中的异常点,从而可以使对该数据样本集合的后续数据分析结果更加可靠和有效。
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申请号:201811336133.0 公开号:CN109449103A 主分类号:H01L21/67(2006.01)I
申请人:江苏利泷半导体科技有限公司 申请日:2018.11.12 公开日:2019.03.08
发明人:肖迪
摘要:本发明涉及一种下蜡系统,本下蜡系统包括:处理单元、加热装置,以及投液装置;其中所述加热装置上开设若干加热槽,所述加热槽适于放置蜡贴非晶片的陶瓷盘;以及所述处理单元适于控制所述加热装置以对所述加热槽内进行加热,且控制所述投液装置向非晶片表面喷射下蜡液以使非晶片从陶瓷盘上脱落;本发明实现了自动化控制下蜡的功能,克服了传统的需要人工搬运,对蜡贴非晶片进行人工揭落的问题,节省了人力、物力,并且提高了下蜡效率。
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申请号:201811348184.5 公开号:CN109333367A 主分类号:B24B57/02(2006.01)I
申请人:江苏利泷半导体科技有限公司 申请日:2018.11.13 公开日:2019.02.15
发明人:肖迪
摘要:本发明涉及一种全自动非晶制程抛光系统的工作方法,本工作方法包括:测量陶瓷盘上蜡贴的非晶片的厚度信息;依据所述厚度信息以对非晶片进行抛光;本发明实现了自动化进行抛光的功能,克服了传统的需要人工测量、记录,对需抛光的非晶片进行人工判别抛光厚度的问题,节省了人力、物力,并且提高了抛光效率。
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申请号:201811348213.8 公开号:CN109216246A 主分类号:H01L21/67(2006.01)I
申请人:江苏利泷半导体科技有限公司 申请日:2018.11.13 公开日:2019.01.15
发明人:肖迪
摘要:本发明涉及一种下蜡系统的工作方法,本下蜡系统的工作方法包括:加热放置有蜡贴非晶片的陶瓷盘;向非晶片表面喷射下蜡液;本发明实现了自动化控制下蜡的功能,克服了传统的需要人工搬运,对蜡贴非晶片进行人工揭落的问题,节省了人力、物力,并且提高了下蜡效率。
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申请号:201811348226.5 公开号:CN109290917A 主分类号:B24B27/00(2006.01)I
申请人:江苏利泷半导体科技有限公司 申请日:2018.11.13 公开日:2019.02.01
发明人:肖迪
摘要:本发明涉及一种全自动非晶制程抛光系统,本抛光系统包括:主控单元、与所述主控单元电性相连的非晶片厚度量测装置,以及抛光装置;其中所述非晶片厚度量测装置适于量测陶瓷盘上蜡贴的若干非晶片的厚度信息,并将所述厚度信息发送至所述主控单元,由所述主控单元控制所述抛光装置对非晶片进行抛光;本发明实现了自动化进行抛光的功能,克服了传统的需要人工量测、记录,对需抛光的非晶片进行人工判别抛光厚度的问题,节省了人力、物力,并且提高了抛光效率。
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申请号:201811349055.8 公开号:CN109290918A 主分类号:B24B27/00(2006.01)I
申请人:江苏利泷半导体科技有限公司 申请日:2018.11.13 公开日:2019.02.01
发明人:肖迪
摘要:本发明涉及一种用于非晶片制程的全自动抛光生产线,本全自动抛光生产线包括:工控机、若干与所述工控机电性相连的抛光系统,以及服务器;所述工控机适于控制各抛光系统进行抛光,并采集各抛光系统的抛光数据;以及所述工控机还适于将所述抛光数据上传至服务器;本发明实现了全自动进行抛光非晶片生产的功能,并通过上传数据便于监管,以控制各环节的规范化。
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申请号:201811400762.5 公开号:CN109685107A 主分类号:G06K9/62
申请人:东软集团股份有限公司 申请日:2018.11.22 公开日:2019.04.26
发明人:肖迪
摘要:本公开涉及一种特征选择方法、系统、计算机可读存储介质及电子设备。方法包括:获取第一特征子集,并确定第一特征子集对应的第一评价指标;获取第二特征子集和第三特征子集;确定第三特征子集对应的第二评价指标;在第二评价指标优于第一评价指标时,执行更新操作;在确定满足第一更新截止条件时,将当前的目标特征子集确定为目标模型的目标输入特征,否则,将第三特征子集确定为新的第一特征子集,将第二评价指标确定为新的第一评价指标,并返回获取第二特征子集和第三特征子集的步骤。由此,可快速有效地筛选出较优的目标模型的目标输入特征、大大降低特征集的维度,在很大程度上解决了“维度灾难”问题,提高了计算效率。
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申请号:201811482814.8 公开号:CN109740762A 主分类号:G06N99/00
申请人:东软集团股份有限公司 申请日:2018.12.05 公开日:2019.05.10
发明人:肖迪
摘要:本公开涉及一种特征选择方法、装置、存储介质及电子设备,所述方法包括:获取候选特征子集集合;根据关联分析算法对候选特征子集集合进行处理,得到至少一个频繁项集;依次对每一频繁项集,执行特征选择操作:若已选特征集合中未包含该频繁项集中的所有特征,则确定该频繁项集与已选特征集合的并集对应的评价指标;若该评价指标优于已选特征集合对应的评价指标,则将并集作为新的已选特征集合;其中,已选特征集合初始为空集,每次得到的新的已选特征集合作为针对下一频繁项集执行特征选择操作中的已选特征集合。通过本公开的技术方案,以频繁项集为单位进行特征选择,考虑了特征之间的互补性,可以达到快速、有效地筛选较优特征的效果。
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