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1:
[发明]
一种基于预校正光栅投影的三维面形测量方法
申请号:
201610651314.7
公开号:CN106017358A 主分类号:G01B11/25(2006.01)I
申请人:
边心田
;
淮阴师范学院
申请日:2016.08.10 公开日:2016.10.12
发明人:
边心田
摘要:本发明公开了一种基于预校正光栅投影的三维面形测量方法,包括以下步骤:通过计算机产生标准的预校正光栅条纹图像;利用投影仪将预校正光栅条纹图像投影到被测量物体上,并确保投影到参考面上的光栅条纹等周期性分布;利用摄像机拍摄投影到被测量物体上对应的变形光栅条纹图像,并上传到计算机;计算机根据投影仪的投影光轴和摄像机成像光轴异面情况下的相位与被测量物体高度映射关系对所拍条纹图像进行分析,最终计算恢复出被测物体的面形分布。本发明改进了投影光栅条纹的分布,推导出投影仪的投影光轴和摄像机成像光轴异面情况下的相位‑高度映射
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2:
[发明]
基于微分干涉的光学薄膜缺陷检测方法
申请号:
201610905495.1
公开号:CN106501266A 主分类号:G01N21/88(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2016.10.18 公开日:2017.03.15
发明人:
边心田
;
雷枫
摘要:本发明公开了一种基于微分干涉的光学薄膜缺陷检测方法,包括:分别调整入射的光源为平面光波、待检测的光学薄膜的表面与平面光波垂直;平面光波依次经过光栏、光学薄膜、第一准直透镜和柱状透镜后,通过微分干涉形成两束平行的出射光;两束平行的出射光经过第二准直透镜,在光电探测器上成像为微分干涉图像;对微分干涉图像进行分析,获取光学薄膜的表面和内部缺陷。本发明利用微分干涉获取光学薄膜表面以及内部的具有较强立体感的清晰图像,易于进行缺陷的分辨,不仅可以同时检测上表面、下表面以及内部缺陷,且检测结果不受外界环境的背景光以及光
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3:
[发明]
非对称式光学干涉测量方法及装置
申请号:
201610907996.3
公开号:CN106441152A 主分类号:G01B11/24(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2016.10.18 公开日:2017.02.22
发明人:
雷枫
;
边心田
摘要:本发明公开了一种非对称式光学干涉测量方法及装置,方法包括:入射光源经过分光镜分为两束光,分别投射到待测物体表面和参考镜表面,并分别通过面积较大的待测物体侧的第一成像透镜、面积较小的参考镜侧的第二成像透镜,经第三成像透镜在光电传感器上叠加形成至少一个干涉图像;第一成像透镜的放大倍率小于第二成像透镜的放大倍率;将相应干涉图像输入计算机获得相应干涉图像信号;对干涉图像信号进行解析,获得待测物体表面的三维形貌。本发明采用不同的放大倍率,使用小面积的参考镜面,得到大面积的待测物体表面的干涉图像,具有操作方便、成本较
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4:
[发明]
一种薄膜厚度测量方法及系统
申请号:
201610936317.5
公开号:CN106441125A 主分类号:G01B11/06(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2016.11.01 公开日:2017.02.22
发明人:
程菊
;
边心田
;
雷枫
摘要:本发明公开了一种薄膜厚度测量方法及系统,该系统包括:照明光学装置,用于产生一锥状光束投射至样品的薄膜表面上一点;成像光学装置,包括聚焦透镜和图像采集模块;所述聚焦透镜将从样品表面反射的光按照入射角从小到大的顺序投射到所述图像采集模块上,所述图像采集模块探测得到样品表面光束的反射强度信息,并根据反射强度信息建立反射率与入射角度之间的关系曲线;薄膜厚度解析装置,利用反射率与入射角度之间的关系曲线和斯涅耳定律构建反射率与折射角度余弦值的函数,并通过对所述函数进行傅里叶变换解析得到样品的薄膜厚度。本发明不仅测量精度高,而且光路简单、紧凑稳定,成本低,易于实现在线测量。
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5:
[发明]
一种改进型聚焦三维形貌测量方法
申请号:
201710187268.4
公开号:CN106959079A 主分类号:G01B11/24(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2017.03.27 公开日:2017.07.18
发明人:
左芬
;
边心田
;
雷枫
摘要:本发明公开了一种改进型聚焦三维形貌测量方法,该方法包括:采用低相干的白光干涉测量系统,连续采集得到具有光滑表面的被测物体的多幅高对比度的干涉图像;计算出每一幅图像中的每个像素坐标点的聚焦因子的最大值;根据所有像素坐标点的聚焦因子的最大值确定所有像素坐标点的精准聚焦位置,从而恢复出具有光滑表面的被测物体的三维形貌。本发明通过采用低相干的白光干涉测量系统,连续采集得到具有光滑表面的被测物体的多幅高对比度的干涉图像,根据所有像素坐标点的聚焦因子的最大值确定所有像素坐标点的精准聚焦位置,从而恢复出被测的光滑表面物体的三维形貌,具有自动化程度高,测量操作简便,测量精度较高和易于普及推广等优点。
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6:
[发明]
一种光电技术实训装置
申请号:
201810124263.1
公开号:CN108230837A 主分类号:G09B23/06(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2018.02.07 公开日:2018.06.29
发明人:
左芬
;
边心田
摘要:本发明公开了一种光电技术实训装置,涉及光电实训技术领域,该光电技术实训装置,包括:第一箱体、第二箱体、第三箱体、收纳架;该第一箱体背面邻近一棱边的位置固定连接该第二箱体一侧面邻近一棱边的位置,该第三箱体的顶面穿过该条状通孔位于该条状通孔外,该收纳架可滑动从该第三箱体一侧口推拿出该第二箱体的顶部安装有转盘,该转盘的下方设置有驱动转盘旋转的转动装置,该转盘的上方安装有显示设备;也即,通过第三箱体的设置位置,以及位于第三箱体相对两侧板上到的正面面板和反面面板、第二箱体和第一箱体的设置方式以及第二箱体上可旋转的显示设备,可实现一光电技术实训装置四人使用,有助于教学成本的减少。
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7:
[发明]
光学间距测量装置及方法
申请号:
201810126722.X
公开号:CN108444403A 主分类号:G01B11/14(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2018.02.08 公开日:2018.08.24
发明人:
左芬
;
边心田
摘要:本发明提供光学间距测量装置及方法,包括U形管、观察口、固定片、卡块以及弹力带,所述U形管安装在测量器主体内部右侧,所述U形管安装在观察口下侧,所述观察口安装在测量器主体右端面,该设计解决了原有光学间距测量装置不方便观测其水平角度的问题,所述固定片安装在测量器主体左端面中间位置,所述卡块安装在固定片左端面,所述卡块外表面设置有弹力带,所述弹力带安装在测量器主体左侧。该设计解决了原有光学间距测量装置没有便捷携带装置的问题。本发明结构合理,便于组合安装,水平调节便捷,测量准确度高,携带方便。
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8:
[发明]
光学件载体及光学测量装置
申请号:
201810126746.5
公开号:CN108168435A 主分类号:G01B11/00(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2018.02.08 公开日:2018.06.15
发明人:
左芬
;
边心田
摘要:本发明提供光学件载体及光学测量装置,包括手轮、连接轴、卷布辊、吸盘以及螺纹孔,机体左侧设置有手轮,机体内部后侧设置有卷布辊,卷布辊通过转轴与机体相连接,转轴安装在机体内部右侧,该设计解决了原有光学件载体及光学测量装置没有防尘功能的问题,固定块安装在丝杆上端面,丝杆安装在固定座内部,固定座中间位置开设有螺纹孔,螺纹孔内部设置有丝杆,丝杆下端面设置有吸盘,丝杆通过螺纹孔与固定座转动连接,固定座安装在机体外表面下侧,该设计解决了原有光学件载体及光学测量装置稳定性不足的问题。本发明结构合理,防尘效果好,防护性强。
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9:
[发明]
一种低功耗、高精度的基准电压源
申请号:
201810493410.2
公开号:CN108549454A 主分类号:G05F1/567(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2018.05.22 公开日:2018.09.18
发明人:
边心田
;
左芬
;
程菊
摘要:本发明涉及模拟电路中的电源技术领域,尤其涉及的是一种低功耗、高精度的基准电压源。本发明中的一种低功耗、高精度的基准电压源,包括核心电路、补偿电路和叠加电路;所述核心电路产生正温度系数电流,所述补偿电路产生正温度系数电流,所述叠加电路将所述正温度系数电流和负温度系数电流叠加并产生基准电压VREF。本发明在传统的基准电压产生电路的基础上进行了改进,具有较低的功耗和更高的输出精度。
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10:
[发明]
一种基于移动最小二乘法的三维面形测量方法
申请号:
201811215191.8
公开号:CN109186496A 主分类号:G01B11/25(2006.01)I
申请人:
淮阴师范学院
申请日:2018.10.18 公开日:2019.01.11
发明人:
边心田
;
左芬
;
程菊
;
雷枫
摘要:本发明公开了一种基于移动最小二乘法的三维面形测量方法,包括以下步骤:利用移动最小二乘法构建目标函数,对变形条纹的表达式归一化,对变形条纹正则化处理,通过希尔伯特变换提取相位,解出被测物体的变形信息,从而获得被测物体的三维形面分布。本发明,结合移动最小二乘法得到变形条纹图的目标函数,对变形条纹图正则化处理,再结合希尔伯特变换具有90°相移的特性,解出被测物体的相位信息,具有曲面拟合精度高,光滑性好的优点,提出方法无需滤波操作,去除了条纹图中的零频成分,通过希尔伯特变换方法,在局部阴影区域也可以解调出被测物体的相位,从变形条纹图像解调深度相关相位,提高三维面形的重建精度。
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