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发明专利:1534实用新型: 1027外观设计: 56
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申请号:201410114032.4 公开号:CN104942295A 主分类号:
申请人:株洲大耀科技有限公司 申请日:2014.03.25 公开日:2015.09.30
发明人:鲁大耀
摘要:本发明公开了一种螺旋铣刀片的加工方法,包括如下步骤:a、将螺旋铣刀片的原料混合物进行湿磨、干燥、过筛工艺,然后加入成型剂混合;b、将步骤a得到的物料进行破碎处理,得到3-5mm的颗粒状物料;c、将破碎后的颗粒状物料进行注射成型,得到螺旋铣刀片坯,所述注射成型工艺中的加热温度为80-120℃;d、将步骤c得到的螺旋铣刀片坯进行浸泡脱脂处理;e、将步骤d中脱脂后的螺旋铣刀片坯进行烧结处理,得到螺旋铣刀片成品。本发明提供的螺旋铣刀片的加工方法,能耗低,得到的螺旋铣刀片质量好,合格率高。
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申请号:201710530657.2 公开号:CN107132672A 主分类号:G02C13/00(2006.01)I
申请人:鲁国耀 申请日:2017.07.03 公开日:2017.09.05
发明人:鲁国耀
摘要:本发明公开了一种快速组装不移心的光学矫正眼镜组件,其特征在于:包括已配好度数的圆形镜片、与圆形镜片相配套的镜框、组合刻度板;所述镜片的外侧面上设有一圈尖边或向内凹陷的线槽,镜片的中心处设有中心标记;镜片表面的边缘处的0度和180度位置处设有水平轴位标记,所述组合刻度板包括矩形底板及与矩形底板一体化连接的水平轴位刻度表;采用小直径的圆形镜片,节省原材料,可在原厂直接生产成型或库存镜片加工,免除了配镜时的耗时再加工,在零售环节可以试戴和快速组装;圆形镜片不移心,可达到最佳的光学性能;覆盖面广。
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申请号:201910094894.8 公开号:CN109744995A 主分类号:A61B3/032
申请人:鲁国耀 申请日:2019.01.30 公开日:2019.05.14
发明人:鲁国耀
摘要:本发明提供了一种视力表,包括标准对数视力表、射线散光视标和红绿细分视标,射线散光视标包括数根均匀间隔的放射状标线,红绿细分视标包括红视标和绿视标,红视标包括红底黑字标和黑底红字标,绿视标包括绿底黑字标和黑底绿字标,红视标的红底黑字标与绿视标的绿底黑字标并列设置,红视标的黑底红字标和绿视标的黑底绿字标并列设置;红视标和绿视标上的视标按其大小依次分有数个等级且从上到下依次设置。本发明对验光配镜,散光和隐斜都进行了矫正,同时采用红绿细分视标进行验光,结果更为准确,避免了过矫。本发明还提供一种防止过矫的验光方法,能够精准地测出欠矫的最高球镜度数和过矫的最低球镜度数,且两者之间的差值在0.25D范围内。
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4:[发明] 存储器
申请号:202211361064.5 公开号:CN118038947A 主分类号:G11C29/00
申请人:长鑫存储技术有限公司 申请日:2022.11.02 公开日:2024.05.14
发明人:鲁耀
摘要:本申请提供一种存储器,包括:依次排列的N个存储阵列,N个存储阵列分别记为第1存储阵列,第2存储阵列,…,第i存储阵列,…,第N存储阵列,其中至少一个存储阵列为冗余阵列,且至少一个存储阵列为主存储阵列,冗余阵列用于替换主存储阵列中的故障存储单元,1≤i
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5:[发明] 存储器
申请号:202211361069.8 公开号:CN118038948A 主分类号:G11C29/00
申请人:长鑫存储技术有限公司 申请日:2022.11.02 公开日:2024.05.14
发明人:鲁耀
摘要:本申请提供一种存储器,包括:依次排列的N个存储阵列,N个存储阵列,其中至少一个存储阵列为冗余阵列,且至少一个存储阵列为主存储阵列,冗余阵列用于替换主存储阵列中的故障存储单元;N个选择电路,接收N‑1组数据;其中,第1选择电路接收第1数据,用于根据第1选择信号向第1存储阵列输出或不输出第1数据;第N选择电路接收第N‑1数据,用于根据第N选择信号向第N存储阵列输出或不输出第N‑1数据;第i选择电路接收第i‑1数据和第i数据,且第i选择电路用于根据第i选择信号向第i存储阵列输出第i‑1数据或第i数据。本方案能够实现故障替换下的数据处理。
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申请号:202310010939.5 公开号:CN118335168A 主分类号:G11C29/42
申请人:长鑫存储技术有限公司 申请日:2023.01.04 公开日:2024.07.12
发明人:鲁耀
摘要:本公开实施例提供一种信号生成电路、存储装置以及操作方法,电路包括:第一电路,被配置为,接收读选择信号、写选择信号和读标志信号,输出第一选择信号,其在读选择信号有效状态结束后至写选择信号有效状态开始前的期间,第一选择信号为有效状态,在读选择信号有效状态开始前和写选择信号有效状态结束后,第一选择信号为无效状态;第二电路,被配置为,接收读选择信号、写选择信号以及第一选择信号,并输出第二选择信号,其中,在读选择信号、写选择信号以及第一选择信号中任一者为有效状态期间,第二选择信号均为有效状态;其中,在执行掩码写入操作期间,列选择开关管响应于有效状态的第二选择信号开启。本公开实施例有利于降低功耗。
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申请号:202310015558.6 公开号:CN118335140A 主分类号:G11C11/4096
申请人:长鑫存储技术有限公司 申请日:2023.01.05 公开日:2024.07.12
发明人:鲁耀
摘要:本公开实施例涉及半导体技术领域,提供一种数据读取电路及其存储装置,数据读取电路包括:第一数据传输路径;第二数据传输路径;控制电路被配置为,接收控制信号、第一选择信号和第二选择信号并输出第一输出信号和第二输出信号;输出电路被配置为,基于第一输出信号和第二输出信号输出第一数据和第二数据,其中,若第一输出信号与第一选择信号的波形相同,且第二输出信号与第二选择信号的波形相同,将第一数据先于第二数据传输至第三数据传输路径;若第一输出信号与第二选择信号的波形相同,且第二输出信号与第一选择信号的波形相同,将第二数据先于第一数据传输至第三数据传输路径。本公开实施例至少有利于降低数据传输的功耗。
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申请号:202310086383.8 公开号:CN118398066A 主分类号:G11C29/56
申请人:长鑫存储技术有限公司 申请日:2023.01.17 公开日:2024.07.26
发明人:鲁耀
摘要:本申请提供一种芯片测试电路及存储器,包括:输入模块,用于在测试阶段,响应于输入时钟将当前接收的数据作为第一数据输出;缓存模块,用于存储种子数据;处理模块,耦接于输入模块和缓存模块,用于根据种子数据和第一数据生成第二数据,第二数据不同于第一数据;输出模块,耦接于输入模块和处理模块,用于响应于输出时钟,在测试阶段将所述第一数据和第二数据作为测试数据,传输至待测芯片的数据传输路径。本方案能够提高测试效率,保证测试的准确性和可靠性。
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9:[发明] 存储器
申请号:202310355882.2 公开号:CN116072195A 主分类号:G11C29/00
申请人:长鑫存储技术有限公司 申请日:2023.04.06 公开日:2023.05.05
发明人:鲁耀
摘要:本申请提供一种存储器,该存储器包括:多个主存储阵列、多个冗余阵列和多个写选择电路;冗余阵列用于替换主存储阵列中的故障存储单元;写选择电路接收M组数据,用于根据写选择信号,将M组数据中的待修复数据输出至对应的冗余阵列的数据传输路径或者不输出数据。本方案能够实现故障替换下的数据处理。
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申请号:202310358333.0 公开号:CN116072207A 主分类号:G11C29/44
申请人:长鑫存储技术有限公司 申请日:2023.04.06 公开日:2023.05.05
发明人:鲁耀
摘要:本申请提供一种故障寻址电路及存储器,其中故障寻址电路包括:使能电路和输出电路,使能电路针对命令地址信号对应的列地址,若该列地址的故障阵列标识不为预设的无效值,则输出有效的使能信号,否则输出无效的使能信号;以及,针对其它列地址输出无效的使能信号;输出电路接收各列地址的故障阵列标识,并根据各列地址的使能信号,输出使能信号有效的列地址的故障阵列标识。本方案能够实现准确的故障寻址。
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