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[发明]
一种自动测试设备及自动测试系统
申请号:
201910190570.4
公开号:CN109782155A 主分类号:G01R31/28
申请人:
胜达克半导体科技(苏州)有限公司
申请日:2019.03.13 公开日:2019.05.21
发明人:
张经祥
;
魏津
;
徐润生
摘要:本发明实施例提供了一种自动测试设备和自动测试系统,所述自动测试设备包括被测信号回路和其他功能回路,其中所述被测信号回路与所述其他功能回路之间进行地隔离。本发明的实施例的自动测试设备和自动测试系统,由于不同回路之间进行了地隔离,有效地避免了信号之间的串扰,提高了信号质量,尤其是小信号的质量。
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