全部专利 发明专利 实用新型专利 外观设计专利
排序方式:
当前查询到6条专利与查询词 "GII采集有限责任公司,以总检测有限责任公司的名义营业"相关,搜索用时0.078125秒!
发明专利:6实用新型: 0外观设计: 0
6 条,当前第 1-6 条 返回搜索页
申请号:200880112749.8 公开号:CN101836073A 主分类号:G01B11/00(2006.01)I
申请人:GII采集有限责任公司,以总检测有限责任公司的名义营业 申请日:2008.08.13 公开日:2010.09.15
摘要:提供了用于光学检测零件的方法和系统。该方法包括沿测量轴支撑零件的步骤。该方法包括用一系列间隔开的辐射平面扫描零件,使得零件沿轴以间隔开的位置阻挡辐射平面中的每一个,以产生辐射平面的相应的一系列无阻挡平面部分。无阻挡平面部分中的每一个包含代表零件的相应的几何尺寸的辐射的量。该方法还包括测量存在于无阻挡平面部分中的每一个中的辐射的量,以获得测量信号。该方法包括处理测量信号以获得原始数据。该方法还包括提供校准数据并处理校准数据和原始数据以获得零件的测量结果。
详细信息 下载全文

申请号:200880112750.0 公开号:CN101836071A 主分类号:G01B5/28(2006.01)I
申请人:GII采集有限责任公司,以总检测有限责任公司的名义营业 申请日:2008.08.13 公开日:2010.09.15
摘要:提供了一种用于估算零件的螺纹参数的方法,零件相对于台和多个感测器移动,所述多个感测器测量包含在未被零件阻挡的引导的辐射平面部分中的辐射的量。辐射的量代表零件的相应的几何尺寸。该方法包括从台的位置限制之间的检查区域获得校准的零件数据。校准的零件数据包括系统的每个感测器和其相应的坐标系统的校准的感测器数据。该方法还包括处理校准的零件数据以获得中间数据。该方法还包括分析中间数据以产生零件的螺纹参数的估算。
详细信息 下载全文

申请号:200880112751.5 公开号:CN101836092A 主分类号:G01J1/10(2006.01)I
申请人:GII采集有限责任公司,以总检测有限责任公司的名义营业 申请日:2008.09.26 公开日:2010.09.15
摘要:提供了一种用于光学零件测量系统中的校准设备。该设备具有中心轴和关于该轴旋转地对称的多个区域。该设备包括一系列阶梯形部分,该一系列阶梯形部分限定具有多个阶梯边缘的多阶梯区域。该多阶梯区域的外形包含用于校准该系统的信息。该设备还包括多个柱体形部分,该多个柱体形部分沿着该轴间隔开,并限定包含用于校准该系统的信息的常量直径区域。该设备还进一步包括平截头体形部分,该平截头体形部分限定一对分开的倾斜边缘区域和倾斜区域,该倾斜区域具有由该一对倾斜边缘区域标记的边界。该平截头体形部分具有在其边界处的第一直径和第二直径,该边界限定能够在该系统中被测量的零件的直径范围。
详细信息 下载全文

申请号:201280033064.0 公开号:CN103635794A 主分类号:G01N21/95(2006.01)I
申请人:GII采集有限责任公司,以总检测有限责任公司的名义营业 申请日:2012.05.15 公开日:2014.03.12
摘要:本发明提供了一种用于光学检查零件的方法和系统,其中该系统包括一个零件传送子系统,该子系统包括一个传送机构,该传送机构被适配成用于在一个装载站处接收和支撑一个零件并传送所支撑的零件,使得该零件沿着一条从该装载站延伸至一个检查站的第一路径行进,在该检查站处,该零件具有用于检查的预定位置和取向。一个照明组件用多个分离的辐射束同时照射该零件的多个外部侧表面。一个远心透镜与检测器组件形成该零件的每个被照射的侧表面的至少一部分的一个光学图像并检测这些光学图像。一个处理器处理这些经检测的光学图像,以获得该零件的、围绕该零件的轴线有角度地间隔开的多个视图。
详细信息 下载全文

申请号:201380011133.2 公开号:CN104136916A 主分类号:
申请人:GII采集有限责任公司,以总检测有限责任公司的名义营业 申请日:2013.03.01 公开日:2014.11.05
摘要:在此提供了一种用于光学检查零件的高速3D方法和系统。该系统包括一个零件传送子系统,该零件传送子系统包括一个传送机构,该传送机构被适配成在一个装料站处支撑一个零件并且将这个受支撑的零件从该装料站传送至一个检查站,在该检查站处该零件具有一个预定的位置和取向以用于检查。该系统还包括一个照明组件,以便同时照亮该零件的一个末端表面和该零件的一个周边表面。该系统进一步地包括一个透镜和检测器组件,以便形成这个照亮的末端表面的一个光学图像和该零件的被照亮的周边表面的一个光学图像并且以便检测这些光学图像。该系统又进一步地包括一个处理器,以便对这些检测过的光学图像进行处理以获得该零件的一个末端视图和该零件的周边表面的一个3D全景视图。
详细信息 下载全文

申请号:201380044283.3 公开号:CN104583710A 主分类号:
申请人:GII采集有限责任公司,以总检测有限责任公司的名义营业 申请日:2013.12.04 公开日:2015.04.29
摘要:在此提供了一种用于光学测量多个制造零件如弹壳的一个几何尺寸的高速3-D方法和系统。该方法包括相继地传送这些零件,使得这些零件沿延伸至一个观测站的一条路径行进,每个零件都在该观测站处具有一个预定的位置和取向以用于光学测量。一条具有预定取向的射线被投射到该零件的间隔开的端表面上以获得从该零件的这些端表面反射的射线段。在一个或多个像平面处检测这些反射的射线段以获得多个电信号,并且对这些电信号进行处理以确定如底火凹座深度的几何尺寸。
详细信息 下载全文

6 条,当前第 1-6 条 返回搜索页
©2024 Patent9.com All rights reserved.蜀ICP备06009422号